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在電子科技飛速發展的當下，電子產品應用場景日益復雜，從高溫密閉的服務器機房到極寒的戶外電子設備，對芯片、電路板等核心部件的可靠性提出了嚴苛要求。近日，某電子科技企業完成新型冷熱沖擊試驗箱的交付使用，為產品可靠性測試帶來重大升級，進一步夯實了企業在行業內的技術競爭力。

在芯片可靠性測試方面，該試驗箱展現出強大的功能。企業研發團隊將新型處理器芯片置于試驗箱內，進行連續 72 小時的冷熱循環測試。在測試過程中，芯片經歷從 - 40℃的低溫環境到 85℃高溫環境的反復切換，同時保持滿負荷運行狀態。通過監測芯片的運算速度、功耗、信號傳輸穩定性等參數，發現芯片在高溫環境下存在晶體管漏電率上升的問題。基于試驗箱反饋的數據，研發團隊對芯片的散熱結構和電路設計進行優化，改進后的芯片在相同測試條件下，性能穩定性提升了 25%，有效延長了使用壽命。