PIPS II 精密離子減薄儀包含了 WhisperLok®，能對減薄樣品進行準確定位。10英寸觸摸屏簡單易用，提高對減薄區域的精度控制和減薄過程的可重復性。配備的數碼變焦顯微鏡系統可以實時監測減薄過程，同時可將獲取的彩圖存儲于DM軟件中，用于與樣品在TEM中成像對比。
PIPS II 精密離子減薄儀
設備簡介：
一代PIPS™離子減薄系統樹立了透射電鏡（TEM）制樣的行業標準已超20年，而全新一代PIPS II 基于一代PIPS 有了根本性的升級。
PIPS II 精密離子減薄儀包含了 WhisperLok®，能對減薄樣品進行準確定位。10英寸觸摸屏簡單易用，提高對減薄區域的精度控制和減薄過程的可重復性。
配備的數碼變焦顯微鏡系統可以實時監測減薄過程，同時可將獲取的彩圖存儲于DM軟件中，用于與樣品在TEM中成像對比。
性能優點：
WhisperLok系統及X-Y可調樣品臺：可對樣品感興趣區域進行對中重復減薄
低能量聚焦離子槍：低能量范圍的性能可用于FIB樣品的表面清掃
能量從 0.1 keV到 8 keV可調 : 低能范圍的性能提升可以減少非晶層
液氮冷臺：去除熱效應產生的樣品損傷
10英寸彩色觸摸屏控制：簡單易用的控制圖形用戶界面
數碼變焦顯微鏡系統：實時監測減薄過程
DM軟件存儲彩圖：可以使用同TEM和EELS數據相同的格式儲存光學顯微圖像
應用：
技術規格：
離子源
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離子槍
| 兩個配有低能聚焦能力電極的潘寧離子槍
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拋光角度（°）
| +10 到-10,每支離子槍可獨立調節
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離子束能量 (keV)
| 0.1 ? 8.0
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離子束流密度峰值 (mA/cm2)
| 10
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射束校準
| 使用熒光屏的精密光束校準
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離子束直徑
| 可用氣體流量計或放電電壓來調節
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樣品臺
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樣品尺寸（mm）
| 3 或者 2.3
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樣品夾持
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標準
| DuoPost®
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可選
| 石墨臺
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轉速 (rpm)
| 1 ? 6
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離子束調制
| 角度范圍可調的單向調制或雙向調制
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X, Y 方向平移 (mm)
| ±0.5
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樣品觀察
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Option 1
| 雙目顯微鏡
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Option 2
| 數碼變焦顯微鏡及 DM 軟件存儲（選配）
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真空系統
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干泵系統
| 80 L/s 的渦輪分子泵，具備兩級隔膜前級泵
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壓力 (torr)
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基本壓力
| 5 x 10-6
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工作壓力
| 8 x 10-5
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真空規
| 冷陰極型，用于主樣品室；固體型，用于前級機械泵
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樣品氣鎖
| WhisperLok,技術，樣品交換時間小于1 分鐘
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用戶界面
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10 英寸彩色觸摸屏
| 操作簡單，且能夠控制所有參數和配方式操作
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尺寸及使用要求
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外形尺寸 (長 x 寬 x 高, mm)
| 547 × 495×615
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運輸重量 (kg)
| 45
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功耗 (W)
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運行時
| 200
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待機時
| 100
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電源要求
| 通用 100/240 VAC, 50/60 Hz （用戶額定電壓和頻率）
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氬氣 (psi)
| 25
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訂貨編號：LR-200635
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