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ICT-33C數(shù)字集成電路測(cè)試儀:可測(cè)1300種器件.可對(duì)器件好壞判別,型號(hào)判別,老化測(cè)試,器件代換查詢,內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改,EPROM、EEPROM器件讀出寫...
數(shù)字集成電路測(cè)試儀BJ3125A 型數(shù)字IC測(cè)試系統(tǒng)是BJ3125數(shù)字IC測(cè)試系統(tǒng) 的改型產(chǎn)品.采用模塊化結(jié)構(gòu),繼承BJ3140(美國(guó)GR-1732M)中大規(guī)模...
數(shù)字集成電路測(cè)試儀 是一個(gè)高科技中檔次的集成電路測(cè)試系統(tǒng),其性能和指標(biāo)已達(dá)到國(guó)家同類產(chǎn)品的水平,該系統(tǒng)運(yùn)行穩(wěn)定,測(cè)試重復(fù)性好,操作簡(jiǎn)便,可診斷性、可維護(hù)性好,性...
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