詳細摘要: Helios5PFIBDualBeam用于TEM樣品制備(包括3D表征、橫截面成像和微加工)的等離子體聚焦離子束掃描電子顯微鏡
產品型號:所在地:合肥市更新時間:2024-11-06 在線留言
合肥帝帕特商貿有限公司
詳細摘要: Helios5PFIBDualBeam用于TEM樣品制備(包括3D表征、橫截面成像和微加工)的等離子體聚焦離子束掃描電子顯微鏡
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