13316818270
當(dāng)前位置：深圳市世紀(jì)天源儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>日本J-RAS
導(dǎo)通電阻試驗(yàn)裝置RTm-30DC并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。
J-RAS ECMr離子遷移試驗(yàn)裝置，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置 絕緣...
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF），在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。
離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置（CAF） 原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生 , 并記錄電阻...
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置 絕緣可靠性評估，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生...
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）絕緣電阻值測試，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短...
J-RAS代理離子遷移試驗(yàn)裝置 CAF測試，J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）ECM-100是可以單獨(dú)試驗(yàn)的ALL-IN-ONE檢測系統(tǒng)，并且重要的試驗(yàn)數(shù)據(jù)被...
日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經(jīng)過長時間的測試（1 ～...
導(dǎo)通電阻試驗(yàn)裝置 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。
日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF） CAF試驗(yàn)/CAF測試是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ），經(jīng)...
ECM-100離子遷移測試裝置（CAF）是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經(jīng)過長時間的測試（1 ～...
3000V離子遷移試驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）,經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000小時）并...
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ），經(jīng)過長時間的測試（1 ～100...
日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置CAF測試是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經(jīng)過長時間的測試（1 ～...
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗(yàn)證碼
以上信息由企業(yè)自行提供，信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé)，儀表網(wǎng)對此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
溫馨提示：為規(guī)避購買風(fēng)險，建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。
