【儀表網 儀表企業】2017年7月12日，牛津儀器Asylum Research部門總結了二維材料領域的新研究進展，撰寫了針對二維材料領域的應用手冊，期望通過該手冊讓研究者更詳細地了解AFM在二維材料研究中的作用。
自2004年發現剝離的石墨烯以來，二維材料領域一直是當今科研的熱點。目前對二維材料的研究已不僅局限于石墨烯材料，各種新型的二維材料以及相關的制備方法將二維材料的研究推至一個新的高度。原子力顯微鏡能直接測試和表征各種二維材料的獨特性能。
Asylum Research應用科學家Keith Jones 解釋到 ： “做為一種高分辨率的成像表征工具，AFM 能夠輕易的測量原子臺階厚度以及原子晶格結構來表征二維材料。除此之外， AFM能夠從納米尺度表征材料的電學，力學和功能特性。 AFM 不僅僅能夠表征表面形貌，其更大的作用在于能夠表征下一代功能器件中的二維材料性能。
Asylum Research 原子力顯微鏡 Cypher 和 MFP-3D 系列已被廣泛的用來進行超高分辨率成像、納米電學、納米力學的性能表征。Asylum的產品的操作越來越簡單，功能模式越來越多。無論研究者是否具有過使用AFM的經驗都可以利用我們的產品進行二維材料的研究。
(原文標題：原子力顯微鏡——表征石墨烯及下一代二維材料不可或缺的工具)
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