HI-Q射頻測試測量系統
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美國OEwaves公司的Hi-Q射頻測試測量系統利用微波光子學技術自動測量超低相位微波信號源。Hi-Q射頻測試測量系統測試速度快、自動化，且在的頻段的任何工作頻率產生一個射頻或微波信號源的相位噪聲譜密度。
該射頻測試測量系統在寬頻段測量上有其性，無需額外的低噪聲參考源或下變頻器，這與常規的零差法所要求的不同。該系統操作簡單、方便、快速、精度高。
通過與美國國家標準與技術研究院測量系統比較，下圖給出了經過校準的該測試測量系統的互相關性能。
特征：
? 超低相位/頻率噪聲測量
? 快速實時測量
? 全自動化
? 互相關零差法能力
? 不需要低噪聲噪聲參考信號源
? 用戶友好界面
? 簡單的筆記本電腦操作
? 6Ux 19英寸機架系統
? 可定制的配置，
? 升級和選項
| HI-Q射頻測試測量系統 | |
| 型號 | OE8000 |
| RMS 時間抖動–單頻道 | 5 fs (100 Hz – 10 MHz) |
| 輸入功率范圍 | +5 to +15 dBm |
| 顯示功能 | 波譜/ 譜密度/ 標記/ 雜波含量 |
| 數據存儲與I/O | HDD / USB端口/ 100以太網端口 |
| 帶寬分辨率 | 0.1 Hz – 200 kHz |
| 電源電壓 | 110 / 120 Vac 或 220 / 240 Vac |
| 射頻測試測量系統尺寸 | 3U x 19英寸機架式 (高度依賴于性能和特征選項) |
