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光學(xué)儀器

光學(xué)儀器是由單個(gè)或多個(gè)光學(xué)器件組合構(gòu)成。光學(xué)儀器主要分為兩大類,一類是成實(shí)像的光學(xué)儀器,如幻燈機(jī)、照相機(jī)等;另一類是成虛像的光學(xué)儀器,如望遠(yuǎn)鏡、顯微鏡、放大鏡等。中文名光學(xué)儀器外文名opticalinstrument概述光學(xué)儀器是由單個(gè)或多個(gè)光學(xué)發(fā)展光學(xué)儀器是儀器儀表行業(yè)中非常重分類實(shí)像或者虛像1發(fā)展光學(xué)儀器是儀器儀表行業(yè)中非常重要的組成類別,是工農(nóng)業(yè)生產(chǎn)、資源勘探、空間探索、科學(xué)實(shí)驗(yàn)、國防建設(shè)以及社會(huì)生活各個(gè)領(lǐng)域*的觀察、測試、分析、控制、記錄和傳遞的工具。特別是現(xiàn)代光學(xué)儀器的功能已成為人腦

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  • 白光干涉3D形貌儀

    SuperViewW白光干涉3D形貌儀可對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析。
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  • 透過率反射率測試系統(tǒng)

    杭州雙色智能的透過率反射率測試系統(tǒng) SS600F 光譜照度計(jì),是新一代手持式儀器,融合多技術(shù),便攜高效。波長 380-780nm,分辨率 ±0.2nm,續(xù)航超 12 小時(shí)。可實(shí)時(shí)顯數(shù)據(jù)曲線,適用于光學(xué)元件檢測等場景,質(zhì)保兩年,終身維護(hù)。
  • Labodorf 351C光密度儀

    光密度(Optical density,簡稱OD)定義為材料遮光能力的表征,光密度沒有量綱單位,是一個(gè)對數(shù)值。光密度的概念最初是用于菲林片和相紙的感光特性領(lǐng)域(曝光量和光密度之間的關(guān)系)。Labodorf 351C光密度儀已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于菲林片、印刷包裝、光阻墨、反光薄膜等材料的光學(xué)分析測試。
  • 白光干涉表面形貌3D測量儀

    SuperViewW白光干涉表面形貌3D測量儀利用光學(xué)干涉原理研制開發(fā)的超精細(xì)表面輪廓測量儀器,主要用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量。
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    SuperViewW納米級白光3d表面輪廓檢測儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測。特殊光源模式可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。
  • 科研級三維白光干涉儀

    SuperViewW科研級三維白光干涉儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。它具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測。
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    SuperViewW微納米白光干涉三維形貌儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。
  • 高精度光學(xué)3D輪廓測量儀

    SuperViewW高精度光學(xué)3D輪廓測量儀實(shí)現(xiàn)各種精密器件及材料表面的亞納米級測量。它能以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。
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