摘要 有圖晶圓共聚焦高精度測量顯微鏡橫向分辨率高，所展示的圖像形態細節更清晰更微細，能夠提供色彩斑斕的真彩圖像便于觀察。可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

摘要 VT6000材料共聚焦3D測量顯微鏡一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數。所展示的圖像形態細節更清晰更微細，能夠提供色彩斑斕的真彩圖像便于觀察。

摘要 VT6000超分辨率轉盤共聚焦顯微鏡以共聚焦技術為原理，結合精密縱向掃描等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，是實現器件表面形貌3D測量的光學檢測儀器。

摘要 VT6000國產轉盤共聚焦顯微鏡所展示的圖像形態細節更清晰更微細，橫向分辨率更高，擅長微納級粗糙輪廓的檢測，能夠提供色彩斑斕的真彩圖像便于觀察。

摘要 VT6000共聚焦工件表面微觀形貌檢測顯微鏡一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數。它在材料生產檢測領域中，測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數。

摘要 中圖儀器VT6000共聚焦晶圓溝槽輪廓尺寸測量顯微鏡基于光學共軛共焦原理，結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，實現器件表面形貌3D測量。

摘要 VT6000高分辨率共焦顯微鏡基于光學共軛共焦原理，主要采用3D捕獲的成像技術顯微成像測量，具有較高的三維圖像分辨率。一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數。

摘要 中圖儀器VT6000高分辨率共聚焦成像顯微鏡系統基于光學共軛共焦原理，結合精密縱向掃描，以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像，從而進行分析。

摘要 VT6000共軛共焦顯微鏡測量技術基于光學共軛共焦原理，以轉盤共聚焦光學系統為基礎，結合高穩定性結構設計和3D重建算法，共同組成測量系統。一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數。

摘要 VT6000系列3D微觀形貌共聚焦顯微鏡基于光學共軛共焦原理，結合精密縱向掃描，3D 建模算法等，對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。對大坡度的產品有更好的成像效果，在滿足精度的情況下使用場景更具有兼容性。

摘要 VT6000共聚焦陡峭角度測量顯微鏡以共聚焦技術為原理，用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數。對大坡度的產品有更好的成像效果，在滿足精度的情況下使用場景更具有兼容性。

摘要 VT6000三維共聚焦白光顯微鏡基于光學共軛共焦原理，結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數。

摘要 中圖儀器VT6000共聚焦超分辨顯微鏡基于光學共軛共焦原理，結合精密縱向掃描，以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像。一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數。

摘要VT6000中圖材料共聚焦顯微鏡基于光學共軛共焦原理，結合精密縱向掃描，以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像，從而進行分析。可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料制造、汽車零部件、ME...

摘要中圖儀器VT6000高分辨率工業用共聚焦顯微鏡是基于光學共軛共焦原理，結合精密縱向掃描，以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像，從而進行分析的精密光學儀器，一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數...

摘要 中圖儀器VT6000材料領域高分辨率共聚焦測量顯微鏡以轉盤共聚焦光學系統為基礎，結合高穩定性結構設計和3D重建算法，共同組成測量系統，可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測，對大坡度的產品有更好的成像效果，在滿足精度的情況下使用場景更具有兼容性。

摘要中圖儀器VT6000共聚焦顯微鏡工業幾何量測顯微鏡基于光學共軛共焦原理，結合精密縱向掃描，以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像，從而進行分析的精密光學儀器，一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參...

摘要 VT6000系列3d形貌測量分析顯微鏡以共聚焦技術為原理，結合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測，對大坡度的產品有更好的成像效果，在滿足精度的情況下使用場景更具有兼容性。

摘要 SuperViewW光學3d顯微輪廓測量儀以白光干涉技術為原理，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

摘要 中圖儀器VT6000系列3D共聚焦形貌顯微鏡基于光學共軛共焦原理，結合精密縱向掃描，以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像，從而進行分析的精密光學儀器，一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數。

摘要VT6000材料共聚焦顯微鏡測量系統以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，提供依據ISO/ASME/EUR/GBT四大國內外標準共...

摘要 在材料生產檢測領域中，中圖儀器VT6000白光共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導體、芯片等材料科學及生產檢測領域中具有廣泛的應用。

摘要 中圖3D共聚焦顯微鏡VT6000是一款用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。在半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及航空航天、科研院所等領域中。

摘要 中圖儀器VT6000共聚焦高分辨率顯微鏡是一款用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

摘要中圖儀器VT6000共聚焦3D顯微鏡是一款用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。主要采用3D捕獲的成像技術，它通過數碼相機針孔的高強度激光來實現數字成像，具有很強的縱向深度的分辨能力。所展現的放大圖像細節要高于常規的光學顯微鏡，擅長微納級粗糙輪廓的檢...

摘要 在材料生產領域中，中圖共聚焦表面粗糙度測量顯微鏡能夠清晰地展示微小物體的圖像形態細節，顯示出精細的細節圖像。能測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數。

摘要VT6000材料型轉盤共聚焦顯微鏡以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，能測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數。配備了真彩相機并提供還原的3D真彩圖像，對細節的展現纖...

摘要 CHOTEST中圖儀器VT6000高精度測量共聚焦顯微鏡用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。對各種產品、部件和材料表面的面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、平面度、粗糙度、波紋度、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。

摘要 中圖儀器VT6000微納米級共聚焦測量顯微鏡能夠清晰地展示微小物體的圖像形態細節，顯示出精細的細節圖像。它具有直觀測量的特點，能夠有效提高工作效率，更加快捷準確地完成日常任務。借助共聚焦顯微鏡，能有效提高工作效率，實現更準確的操作。

摘要 中圖激光共聚焦顯微鏡可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測，對大坡度的產品有更好的成像效果，在滿足精度的情況下使用場景更具有兼容性。能夠清晰地展示微小物體的圖像形態細節，顯示出精細的細節圖像。它具有直觀測量的特點，能夠有效提高工作效率，更加快捷準確地完成日常任務。

摘要 中圖儀器VT6000系列3D激光共聚焦形貌顯微鏡結構簡單：儀器整體由一臺輕量化的設備主機和電腦構成，控制單元集成在設備主機之內，亦可采用筆記本電腦驅動，實現了“拎著走”的便攜式設計；是一款用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。

摘要VT6000共聚焦激光顯微鏡以轉盤共聚焦光學系統為基礎，主要測量表面物理形貌，進行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面粗糙度等。與傳統光學顯微鏡相比，它具有更高的分辨率，實現多重熒光的同時觀察并可形成清晰的三維...

摘要 VT6000系列共聚焦3D成像顯微鏡以共聚焦技術為原理，能對各種產品、部件和材料表面的面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、平面度、粗糙度、波紋度、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。

摘要 中圖儀器VT6000系列3D激光測量共聚焦顯微鏡是一款用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。設備具備表征微觀形貌的輪廓尺寸及粗糙度測量功能；設備具備自動拼接功能，能夠快速實現大區域的拼接縫合測量。

摘要 中圖儀器VT6000共聚焦顯微鏡大坡度成像更清晰，它以針孔共聚焦技術為原理，結合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測，對大坡度的產品有更好的成像效果，在滿足精度的情況下使用場景更具有兼容性。

摘要 SuperViewW1中圖國產白光干涉儀采用光學干涉技術、精密Z向掃描模塊和3D重建算法組成測量系統，保證測量精度高；隔振系統能夠有效隔離頻率2Hz以上絕大部分振動，消除地面振動噪聲和空氣中聲波振動噪聲，保障儀器在大部分的生產車間環境中能穩定使用，獲得高測量重復性。

摘要 中圖儀器VT6000共聚焦顯微鏡品牌是一款在材料領域中，用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的光學檢測儀器。采用全電動化設計，并可無縫銜接位移軸與掃描軸的切換，圖像視窗和分析視窗同界面的設計風格，實現了所見即所得的快速檢測效果。

摘要 SEMILAB掃描探針顯微鏡DS-95掃描探針顯微鏡DS-95；DS-95 SPM 掃描儀系列提供易用性和性能。DS-95 SPM 掃描儀的緊湊設計確保了令人難以置信的穩定性和掃描速度。

摘要VT6000轉盤共聚焦掃描顯微鏡儀器整體由一臺輕量化的設備主機和電腦構成，控制單元集成在設備主機之內，亦可采用筆記本電腦驅動，實現了“拎著走”的便攜式設計；采用自研的電動鼻輪塔臺，并對軟件防撞設置與硬件傳感器防撞設置功能進行了優化，在使用高倍物鏡僅不到1mm的工作距離...

摘要 VT6000材料共聚焦顯微鏡品牌可對各種產品、部件和材料表面的面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、平面度、粗糙度、波紋度、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析，是一款用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的光學檢測儀器。

摘要VT6000系列3d成像激光共聚焦顯微鏡以共聚焦技術為原理，所展現的放大圖像細節要高于常規的光學顯微鏡。使用的探測元件是高靈敏度的光電倍增管，對微弱的熒光信號可以呈現出很高的靈敏度，并且還可以通過縮小激發范圍并使用光學切片來消除背景噪聲。能測各類包括從光滑到粗糙、低反...

摘要 CHUO中央精機自動對焦顯微鏡AF-BDAF-BD,AF-VW,AF-UN,AF-UNB,AF-WM,AF-IZ,AF-WF,AF-77VB,AF-RF,

摘要 Union光學EMA-400臺式面罩對準器打印機EMA-400 臺式面罩對準器緊湊、高性能、低成本的桌面曝光系統，非常適合研發。該產品是一款節省空間、易于操作、高性能、低成本的掩模對準器，非常適合大學和企業實驗室使用。

摘要 VT6000材料生產用共聚焦顯微鏡在材料生產領域中，結合CCD的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內準確量測物體的三維數據。是一款用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。

摘要中圖儀器VT6000系列共聚焦激光掃描顯微鏡以轉盤共聚焦光學系統為基礎，結合高穩定性結構設計和3D重建算法，共同組成測量系統，儀器測量精度高；儀器的隔震設計能夠消減底面振動噪聲，在大部分的環境中穩定可靠，具有良好的測量重復性。是一款用于對各種精密器件及材料表面進行微納...