其它光學(xué)測(cè)量

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最新產(chǎn)品\ NEW PRODUCT

材料形貌檢測(cè)共聚焦顯微鏡
VT6000材料形貌檢測(cè)共聚焦顯微鏡所展示的圖像形態(tài)細(xì)節(jié)更清晰更微細(xì)，橫向分辨率更高。它具有直觀測(cè)量的特點(diǎn)，能夠有效提高工作效率，更加快捷準(zhǔn)確地完成日常任務(wù)。借助共聚焦顯微鏡，能有效提高工作效率，實(shí)現(xiàn)更準(zhǔn)確的操作。
可拓展4m量程光纖激光尺
PLR3000系列可拓展4m量程光纖激光尺具有更加精確的柵距和更高的分辨率，同時(shí)其熱源隔離設(shè)計(jì)，保證了更高的穩(wěn)定性，具有安裝快捷，易于準(zhǔn)直等特點(diǎn)?？筛鶕?jù)用戶需求，配置單軸、雙軸以及三軸輸出，輕松實(shí)現(xiàn)多軸測(cè)量或多自由度測(cè)量。
高線性精度光纖激光尺
相比傳統(tǒng)鋼帶尺或玻璃光柵，PLR3000系列高線性精度光纖激光尺具有更加精確的柵距和更高的分辨率，同時(shí)其熱源隔離設(shè)計(jì)，保證了更高的穩(wěn)定性，具有安裝快捷，易于準(zhǔn)直等特點(diǎn)?？筛鶕?jù)用戶需求，配置單軸、雙軸以及三軸輸出，輕松實(shí)現(xiàn)多軸測(cè)量或多自由度測(cè)量。
高精度3D白光干涉儀
SuperViewW高精度3D白光干涉儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。
白光形貌干涉儀
SuperViewW白光形貌干涉儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。
白光干涉三維光學(xué)形貌儀
中圖儀器SuperViewW白光干涉三維光學(xué)形貌儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車(chē)零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。
國(guó)產(chǎn)白光干涉三維形貌儀
SuperViewW國(guó)產(chǎn)白光干涉三維形貌儀用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量?？蓽y(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
紅外熱成像面部掃描系統(tǒng)ME
MEDICAS紅外熱成像相機(jī)配備一個(gè)像素分辨率為640×512px的LWIR短波紅外微測(cè)輻射熱敏傳感器，并提供一個(gè)用于獲得熱成像的RGB相機(jī)（1920x1080像素全高清分辨率）
WIRIS Pro紅外熱成像相機(jī)
WIRISPro配備一個(gè)LWIR長(zhǎng)波紅外微測(cè)輻射熱傳感器，分辨率為640×512像素（在7.5-13.5μm范圍)，超分辨率模式可以提供高達(dá)1266x1010像素的熱成像圖，熱敏相機(jī)可以測(cè)量高達(dá)1500°C的溫度
機(jī)器人空間位置精度激光追
GTS機(jī)器人空間位置精度激光追蹤儀是高精度、便攜式的空間大尺寸坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，是同時(shí)具高精度（μm級(jí)）、大工作空間（百米級(jí)）的高性能光電測(cè)量?jī)x器，被廣泛應(yīng)用在飛機(jī)、汽車(chē)、船舶、航天、機(jī)器人、核電、軌道交通裝備制造行業(yè)以及大型科學(xué)工程、工業(yè)母機(jī)的高精密加工和裝配中，已成為多個(gè)行業(yè)的習(xí)慣和測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)。

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