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電子元器件老化項目及注意事項

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    2021年12月07日
關鍵詞
電子元器件老化項目,光老化試驗箱,熱老化試驗,臭氧老化試驗,高低溫循環試驗
上傳者
北京普桑達儀器科技有限公司
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資料簡介

在電子產品在加工過程中,由于經歷了復雜的加工和元器件物料的大量使用,無論是加工缺陷還是元器件缺陷,都可分為明顯缺陷和潛在缺陷,明顯缺陷指那些導致產品不能正常工作的缺陷,例如短路/斷路。

而潛在缺陷導致產品暫時可以使用,但在使用中缺陷會很快暴露出來,產品不能正常工作。潛在缺陷則無法用常規檢驗手段發現,而是運用老化的方法來剔除。

如果老化方法效果不好,則未被剔除的潛在缺陷將最終在產品運行期間以早期失效(或故障)的形式表現出來,從而導致產品返修率上升,維修成本增加。

為了達到滿意的合格率,幾乎所有產品在出廠前都要先藉由老化,而老化(Burn in)是指在一定的環境溫度下、較長的時間內對元器件連續施加環境應力,而環境應力篩選(ESS:Environment Stress Screen )則不僅包括高溫應力,還包括其他很多應力,例如溫度循環、隨機振動等,通過電-熱應力的綜合作用來加速元器件內部的各種物理、化學反應過程,促使隱藏于元器件內部的各種潛在缺陷及早暴露,從而達到剔除早期失效產品的目的。


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