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納米粒度及zeta電位儀是一款新型的、具有極寬測試范圍的多用途分析儀,它是采用光子相關光譜法、電泳光散射以及的FST技術的納米粒度儀和zeta電位分析儀,并可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位,符合ISO標準。該儀器采用了高靈敏度測量技術,是同時滿足低濃度和高濃度樣品分析要求的納米粒度儀與zeta電位分析儀,可檢測粒徑從0.1nm到12.30μm,濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。
納米粒度及zeta電位儀融納米顆粒粒度分布與zeta電位測量于一體,無需傳統(tǒng)的比色皿,一次進樣即可得到準確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的zeta電位分析技術相比,納米粒度及zeta電位儀采用的“Y”型光纖探針光路設計,配置膜電極產生微電場,操作簡單,測量迅速,無需精確定位由于電泳和電滲等效應導致的靜止層,無需外加大功率電場,無需更換分別用于測量粒度和zeta電位的樣品池,消除由于空間位阻(不同光學元器件間的傳輸損失,比色皿器壁的折射和污染,比色皿位置的差異,分散介質的影響,顆粒間多重散射等)帶來的光學信號的損失,結果準確可靠,重現(xiàn)性好。
納米粒度及zeta電位儀主要特點:
1、異相多譜勒頻移技術,較之傳統(tǒng)的方法,獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級,提高分析結果的可靠性。
2、可控參比方法(CRM),能精細分析多譜勒頻移產生的能譜,確保分析的靈敏度。
3、超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計,減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。
4、快速傅利葉變換算法(FFT,F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method),迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜,縮短分析時間。
5、膜電極設計,避免產生熱效應,能準確測量顆粒電泳速度。
6、無需比色皿,毛細管電泳池或外加電極池,僅需點擊Zeta電位操作鍵,一分鐘內即可得到分析結果。
7、消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,諸如光路中不同光學元器件間傳輸?shù)膿p失,樣品池位置不同帶來的誤差,比色皿器壁的折射與污染,分散介質的影響,多重散射的衰減等,提高靈敏度。
8、采用的動態(tài)光散射技術,引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關光譜法。
9、“Y”型光纖光路系統(tǒng),通過藍寶石測量窗口,直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布,在加載電流的情況下,與膜電極對應產生微電場,測量同一體系的Zeta電位,避免樣品交叉污染與濃度變化。
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