目前國內(nèi)對于高含量金首飾沒有相關(guān)檢測標準，利用X射線熒光光譜法。一些天然礦物，如黃銅礦、黃鐵礦和金云母等，以及一些合金，如黃銅、人造 黃金 和彩色K黃金等，具有與黃金相似的顏色和光澤，常有人用來以假亂真。因此，采用適當(dāng)?shù)姆椒ɑ蛘邇x器對黃金及其飾品進行識別和鑒定，是十分必要的。接下來一六儀器說說黃金檢測儀：XAU高性能膜厚儀。

　　XAU高性能膜厚儀儀器簡介：

　　XAU是一款設(shè)計結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度光譜分析儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計，是一款一機多用型光譜儀。

　　應(yīng)用核心EFP算法和微光聚集技術(shù)，既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能，又可滿足微區(qū)RoHS檢測及成分分析。

　　被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

　　XAU高性能膜厚儀產(chǎn)品優(yōu)勢：

　　微小樣品檢測：最小測量面積0.03mm2(加長測量時間可小至0.01mm2);

　　變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-30mm;

　　自主研發(fā)的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂鍍層，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精準測量;

　　*的解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限;

　　高性能探測器：SDD硅漂移窗口面積25/50mm2探測器;

　　光路系統(tǒng)：微焦加強型射線管搭配聚焦、光路交換裝置;

　　XAU高性能膜厚儀應(yīng)用領(lǐng)域：

　　廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、新能源行業(yè)、5G通訊、五金建材、航天航空、環(huán)保行業(yè)、汽車行業(yè)、貴金屬檢測、精密電子、電鍍行業(yè)等多種領(lǐng)域。

　　專業(yè)的研發(fā)團隊在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上，計算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法，結(jié)合*的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，只需要少量的標樣來校正儀器因子，可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。

　　以上就是一六儀器整理分享的關(guān)于XAU高性能膜厚儀黃金檢測儀，一機多用，無損檢測，輕元素，重復(fù)鍍層，同種元素不同層亦可檢測。有需要的朋友歡迎電話咨詢。