相關(guān)產(chǎn)品介紹：
OPTIGAUGE 2000儀器基于時(shí)域低相干干涉測量法。這項(xiàng)技術(shù)可以對(duì)任何對(duì)光測量透明或部分透明的材料進(jìn)行厚度測量。使用中心波長約為2微米的紅外光。設(shè)計(jì)用于測量特殊和稀有材料。常規(guī)的玻璃和塑料材料也可以測量。我們的技術(shù)可實(shí)現(xiàn)快速的實(shí)時(shí)測量，可用于在線過程控制以及離線質(zhì)量控制。
主要特點(diǎn)：
-測量范圍：100ΜM-16MM
-精度±1.0ΜM
-單層和多層測量
-連續(xù)內(nèi)部校準(zhǔn)
-NIST可追溯性
-臺(tái)式或機(jī)架安裝

CLAS-2D波前傳感器將干涉儀，光束輪廓儀和光束質(zhì)量儀的功能整合在一臺(tái)儀器中，以提供準(zhǔn)確的波前測量和激光輪廓分析。
該系統(tǒng)軟件是業(yè)內(nèi)靈活軟件，可以分析光學(xué)像差，包括像散，球差，聚焦誤差/準(zhǔn)直，傾斜等。此外，CLAS-2D還測量M2光束質(zhì)量，MTF，近場和遠(yuǎn)場光束發(fā)散度以及其他光束參數(shù)。
主要特點(diǎn)：
-激光束診斷
-光學(xué)測試
-對(duì)準(zhǔn)
-角度測量
-準(zhǔn)直
-表面測量

CRYSTALWAVE人工晶狀體精密像差儀是一種高度靈敏的光學(xué)儀器，專門設(shè)計(jì)用于使用10,000個(gè)小透鏡的柵格來測量人工晶狀體。它使您可以通過使用或不使用可選模型眼的WAVEFRONT測量來計(jì)算MTF。CRYSTALWAVE 765還包括可用于視覺檢查的攝像機(jī)。與我們的CLAS-2D服務(wù)器軟件兼容，您還可以使用LABVIEW，VISUAL BASIC或其他語言編寫CRYSTALWAVE 765的應(yīng)用程序，以直接控制生產(chǎn)線環(huán)境中的儀器。
主要特點(diǎn)：
-測量范圍包括球面度數(shù)，圓柱度，軸，彗差，三葉形和其他高階像差

-使用綠色光源進(jìn)行的測量符合ISO 11979