可程式冷熱沖擊試驗箱主要用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料在瞬間下經(jīng)過*溫和極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度，藉以在zui短時間內試驗其因高、低溫的反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的品質,從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具. 冷熱沖擊試驗箱適用的對象包括金屬, 塑料,橡膠, 電子....等材料,可作為其產品改進的依據(jù)或參考.

一般來說，可程式冷熱沖擊試驗箱操作分為五部走：預處理、初始檢測、試驗、恢復、zui后檢測。

1、預處理：將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下，直至達到溫度穩(wěn)定。

2、初始檢測：將被測樣品與標準要求對照，符合要求后直接放入冷熱沖擊試驗箱內即可。

3、試驗：

A、試驗樣品應按標準要求放置在試驗箱內,并將試驗箱(室)內溫度升到點，保持一定的時間至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準。

B、高溫階段結束后，在5min內將試驗樣品轉換到已調節(jié)到-55℃的低溫試驗箱(室)內，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準。

C、低溫階段結束后，在5min內將試驗樣品轉換到已調節(jié)到70℃的高溫試驗箱(室)內，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準。

D、重復上述實驗方法,以完成三個循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小，時間可能會略有誤差。

4、恢復：試驗樣品從試驗箱內取出后，應在正常的試驗大氣條件下進行恢復，直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定。

5、zui后檢測：對照標準中的受損程度及其它方法進行檢測結果評定。

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