當(dāng)前位置：廣東艾思荔檢測儀器有限公司>>技術(shù)文章>>pct老化箱試驗(yàn)LED光源衰退原因
pct老化箱是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?或封裝體引腳間因污染造成短路等。
LED具有低電壓、低能耗、長壽命、高可靠性、易維護(hù)等優(yōu)點(diǎn),已成為照明行業(yè)的主流。雖然LED光源已逐步取代其他光源成為照明行業(yè)的主流,但其壽命及其可靠性仍有待提高,這已成為現(xiàn)階段的研究重點(diǎn)。
LED光源可靠性通常采取pct老化箱進(jìn)行一個溫度加速老化試驗(yàn),在LED樣品試驗(yàn)中隨著老化時間的增長,會產(chǎn)生光衰退,而產(chǎn)生光衰退的原因有熒光粉、硅膠以及芯片的衰減。
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