測量模式：可進行全頻掃描和點頻測量。
設備功能：可進行傳輸測量（測幅頻特性，插損，相位，放大器增益，天線增益，群時延，可選天線方向圖測試功能），反射測量(測駐波，回損，阻抗，反射相位，電長度，具有Smith圓圖顯示功能，時域故障定位功能。
顯示格式：傳輸測量有對數幅度顯示和幅度相位同時顯示；反射測量有對數顯示，駐波比顯示，Smith圓圖顯示。
主要技術指標 |
信 號 源 | 頻率范圍 | 0.001-120MHZ |
| 頻率精度 | ≤10-5 |
| 頻率分辨率 | 0.5KHZ |
顯 示 | 插損分辨率 | 0.01Db/div不確定度在50Db內0.2dB+Db值的4% |
| 反射分辨率 | 0.002小反射不確定度在0.02（即剩余駐波1.02） |
| 相位分辨率 | 0.10 ，不確定度約50 /幅值 |
測 量 特 性 | 頻率范圍 | 0.001-120MHZ |
| 雜波抑制力 | 40dB |
| 群時延 | 1ns—40μs |
| 時域故障 定位功能 | 0~1200米共分七檔 |
| 動 態 范 圍 | 插損 | 70dB |
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| 回損 | 50dB |
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| 增益 | -20—30dB |
端 口 特 性 | 反射電橋有效定向性 | ≥40dB |
| 負載回損 | ≥45dB |
| 測試端口 | N型 單測試通道 |
其 他 | 外形尺寸（mm） | 320寬×133高×150長 |
| 重量 | 5公斤 |
| 標配附件 | 50ΩN型測試套件（包括電橋，成套校準件等） |
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| 75Ω測試套件，雙線系統測試套件，中波，短波，調頻，電視抗干擾測試套件 |
