DP-WSP-51數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。

本測試儀可贈設電池供電，適合手持式變動場合操作！

儀器所有參數設定、功能轉換全部采用旋鈕輸入；具有零位、滿度自校功能；自動轉換量程；測試探頭采用耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長；測試結果由數字表頭直接顯示。

三、基本參數

1. 測量范圍、分辨率

電阻： 1.0×10^-2～ 2000Ω, 分辨率0.1×10^-3～ 0.1×10Ω

電阻率： 1.0×10^-3～ 2000 Ω-cm 分辨率0.1×10^-2～ 0.1 Ω-cm

方塊電阻： 1.0×10^-3～ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10^-1～ 0.1×10 Ω/□

2. 可測半導體材料尺寸（手持式）

直徑：測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，其他方式不限.

長（或）度：測試臺直接測試方式 H≤160mm, 其他方式不限.

3. 量程劃分及誤差等

量程

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

kΩ-cm/□

Ω-cm/□

mΩ-cm/□

基本誤差

±1%FSB±2LSB

±1.5%FSB

±4LSB

4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W，或電池供電

5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

凈重：≤0.5kg

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方塊電阻/電阻率四探針測試儀/DP-WSP-51

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