鍍層厚度分析儀也稱(chēng)作膜厚儀，測(cè)厚儀等，主要是用于檢測(cè)電鍍鍍層的厚度。

根據(jù)儀器的測(cè)試方法，一般有五類(lèi)儀器

1、磁性測(cè)厚儀

2、超聲波測(cè)厚儀

3、電解測(cè)厚儀

4、渦流測(cè)厚儀

5、X射線(xiàn)測(cè)厚儀

其中電解測(cè)厚儀對(duì)待測(cè)樣品有損傷，測(cè)試起來(lái)也比較麻煩，但是精度會(huì)相對(duì)高一些。相對(duì)前四種有的對(duì)待測(cè)樣有損傷，有的測(cè)試精度不夠高，X射線(xiàn)測(cè)厚儀的優(yōu)勢(shì)也是很明顯的，不僅測(cè)試的精度高，對(duì)待測(cè)樣品的要求更少，而且操作更簡(jiǎn)單，還可以無(wú)接觸、無(wú)損檢測(cè)。但相對(duì)于前幾類(lèi)儀器的價(jià)格，卻是貴的。

X射線(xiàn)鍍層厚度分析儀

特點(diǎn)：

• 配備了高性能的X射線(xiàn)管和大窗口的硅漂移探測(cè)器（SDD），能高精度地測(cè)量較薄的鍍層
• 極耐用的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)，能以極出色的長(zhǎng)期穩(wěn)定性用于連續(xù)測(cè)量
• 可編程XY平臺(tái)和Z軸，用于自動(dòng)化連續(xù)測(cè)量
• 擁有實(shí)時(shí)的視頻顯示和輔助激光點(diǎn)，使得樣品定位變得快速而簡(jiǎn)便

應(yīng)用：

鍍層厚度測(cè)量

• 測(cè)量極薄鍍層，如電子和半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中厚度小于0.1um的Au和Pd鍍層
• 測(cè)量汽車(chē)制造業(yè)中的硬質(zhì)涂層
• 光伏產(chǎn)業(yè)中的鍍層厚度測(cè)量

應(yīng)用領(lǐng)域：

    線(xiàn)路板、引線(xiàn)框架及電子元器件接插件檢測(cè)

    手表、精密儀表制造行業(yè)

    鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析  

    釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

    汽車(chē)、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測(cè)

    衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

    電鍍液的金屬陽(yáng)離子檢測(cè)

    其他樣品鍍層測(cè)試

性能優(yōu)勢(shì)：

 下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

   無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm。

   微聚焦射線(xiàn)裝置：可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品，可測(cè)試各微小的部件。

   高效率的接收器：即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

   精密微型滑軌：快速精準(zhǔn)定位樣品。

 EFP先進(jìn)算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

儀器規(guī)格：

  外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長(zhǎng)x寬x高）

  樣品倉(cāng)尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長(zhǎng)x寬x高）

  儀器重量 ：55kg

  供電電源 ：交流220±5V

  大功率 ：330W

  環(huán)境溫度：15℃-30℃

  環(huán)境相對(duì)濕度：<70%