快速溫變試驗(yàn)設(shè)備.cn，快溫變恒溫恒濕試驗(yàn)箱，快溫變恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)，快速溫變,真空系列箱適用于國防工業(yè),工業(yè)、自動化零組件,汽車部件,電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品,塑膠,化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)（沖擊）。適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及應(yīng)力篩選試驗(yàn)（ESS）以便對試品在擬定條件下的性能、行為作出分析及評價(jià)（快速變化）。
　　溫度應(yīng)力篩選試驗(yàn)設(shè)備，快溫變試驗(yàn)箱，快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱，溫度應(yīng)力篩選試驗(yàn)機(jī)，ESS箱，溫度循環(huán)（temperaturecycling）應(yīng)力篩選是產(chǎn)品在設(shè)計(jì)強(qiáng)度極限下，運(yùn)用溫度加速技巧（在上、下限極值溫度內(nèi)進(jìn)行循環(huán)時(shí)，產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮）改變外在環(huán)境應(yīng)力，使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變，透過加速應(yīng)力來使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)[潛在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵]，以避免該產(chǎn)品于使用過程中，受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)時(shí)而導(dǎo)致失效，造成不必要的損失，對于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著的效果，另外應(yīng)力篩本身是一種制程階段的過程，而不是一種可靠度試驗(yàn)，所以應(yīng)力篩選是100％對產(chǎn)品進(jìn)行的程序。

【快溫變恒溫恒濕試驗(yàn)箱測試標(biāo)準(zhǔn)】
　　GB/T5170.1-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則
　　GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
　　GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
　　GB/T5170.8-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
　　GB/T5170.9-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輔射試驗(yàn)設(shè)備
　　GB/T5170.10-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
　　GB/T5170.11-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試設(shè)備
　　艾思荔工廠現(xiàn)貨產(chǎn)品：恒溫恒濕柜，溫濕度箱，高低溫濕熱試驗(yàn)箱，濕熱交變試驗(yàn)箱，高低溫試驗(yàn)箱，恒定濕熱試驗(yàn)箱，交變濕熱箱，標(biāo)準(zhǔn)型恒溫恒濕機(jī)，可程序恒溫恒濕機(jī)，高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱，交變濕熱試驗(yàn)箱，超低濕恒溫恒濕機(jī)，等均溫恒溫恒濕機(jī)，恒溫恒濕機(jī)箱等測試設(shè)備請致電：