原子級的納米分析

牛津儀器作為納米分析系統生產廠家中的，zui近發布了透射電鏡上配備的能譜儀。該能譜儀的靈敏度代表了當前SDD探頭技術的zui高水平。這款X-MaxN 100TLE探頭為工作在納米科學前沿的場發射和球差矯正TEM用戶提供了的解決方案。

X-MaxN 100TLE探頭應用了有效面積100mm2的晶體，無窗設計，提供超大固體角的新穎機械設計。以N Ka X射線為例，其有效固體角比傳統的30mm2 SDD探頭大了12倍。這意味著用戶可以檢測到更低濃度的元素，例如納米級別的雜質和參雜物。另一個好處是可以在電子束破壞敏感樣品前采集到更多的數據。

正如牛津儀器納米分析市場總監Del Redfern說“這是我們SDD探頭中的旗艦產品，它體現了靈敏度和速度的大飛躍。在高分辨TEM的試驗中，我們甚至可以在60秒內采集到原子列面分布圖。"

納米分析部

納米分析是能夠在納米級別進行材料表征及樣品處理的工具。 利用電子顯微鏡以及離子束系統，我們的設備可廣泛應用于學術研究和工業應用，包括半導體、可再生能源、采礦、冶金以及法醫學等領域