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EBSD數(shù)據(jù)的后處理和分析 (第二講)

時間:2017-3-13閱讀:4125
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近年來,EBSD技術在材料分析研究中的應用越來越廣泛。傳統(tǒng)上,EBSD制樣、EBSD數(shù)據(jù)采集、EBSD數(shù)據(jù)分析是EBSD應用的三大難點;如今,隨著制樣技術的日趨成熟和AZtec軟件越來越簡便易行,制樣與數(shù)據(jù)采集已經(jīng)很容易掌握了。

新一期網(wǎng)絡講堂將繼續(xù)聚焦EBSD的數(shù)據(jù)分析。上一期我們詳細講解了去噪、統(tǒng)計晶粒度、晶界分析相關的內(nèi)容和技巧。這次我們將從基本原理到具體操作分析上,著重介紹應變分析、織構分析和位向關系分析等相關內(nèi)容。應變分析會利用到Channel5和AZtec中相應的Map Components, BC/BS、KAM( LocMis )、Strain Contouring、GOS/MOS、GROD、Disoreintation colouring等。在織構分析中我們將介紹如何調(diào)整參考坐標系,分析典型織構等。

 

講師:楊小鵬博士

清華大學材料科學與工程博士,曾從事EBSD軟件后處理功能的開發(fā)工作,2014年回國加入牛津儀器公司,主要負責EBSD等工作。

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