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X熒光測厚儀使用規(guī)程

時間:2016/1/7閱讀:1802
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 1、打開X熒光鍍層測厚儀,打開電腦。
 
2、準備各種標準片及樣品。
 
3、開機后輸入操作者應用密碼,并預熱60min。
 
4、點擊“計數(shù)”,再點擊“重復”,輸入次數(shù)“30~50”,設(shè)置重復測次數(shù)為“30~50”,將標準校準樣品“Ag”部分放入準直器鏡頭下,點擊“聚集激光”進行聚焦,然后點擊綠色測試按鈕“GO”進行測試。
 
5、X熒光測厚儀波譜校準:點擊“波譜校準”,將校準樣品“Ag-Cu”部分放入準直器鏡頭下,點擊“聚集激光”進行聚焦,然后點擊綠色測試按鈕“GO”進行測試;將標準樣品“Ag”部分放入準直器鏡頭下,點擊“聚集激光”進行聚焦,然后點擊綠色測試按鈕“GO”進行測試;波譜校準成功后,點擊確定,校準過程完畢。
 
6、X熒光測厚儀樣品測量:
 
①打開應用測試檔案,點擊樣本測量,然后點擊應用,再點擊Config,選擇要測量的應用檔案,然后點擊“打開”。②將待測試的樣品放入準直器鏡頭下,點擊“聚集激光”進行聚焦,然后點擊綠色測試按鈕“GO”進行測試。
 
7、X熒光測厚儀數(shù)據(jù)打印。點擊打印,輸入待打印的樣品名稱、型號、供應商等信息,點擊“繼續(xù)”進行結(jié)果打印。
 
8、測量完成后依次關(guān)閉軟件和設(shè)備,拔掉電源。

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