非接觸紅外測溫產(chǎn)品包括便攜式、在線式和掃描式三大系列,并備有各種選配件和相應(yīng)的計(jì)算機(jī)軟件,每一系列中又有各種型號(hào)及規(guī)格。在不同規(guī)格的各種型號(hào)測溫儀中,正確地選擇紅外測溫儀型號(hào)對(duì)用戶來說是十分重要的。
選擇紅外測溫儀可分為三個(gè)方面：
性能指標(biāo)方面,如溫度范圍、光斑尺寸、工作波長、測量精度、響應(yīng)時(shí)間等;環(huán)境和工作條件方面 , 如環(huán)境溫度、窗口、顯示和輸出、保護(hù)附件等; 其他選擇方面,如使用方便、維修和校準(zhǔn)性能以及價(jià)格等 , 也對(duì)測溫儀的選擇產(chǎn)生一定的影響。隨著技術(shù)和不斷發(fā)展,紅外測溫儀*設(shè)計(jì)和新進(jìn)展為用戶提供了各種功能和多用途的儀器,擴(kuò)大了選擇余地。
確定測溫范圍:
測溫范圍是測溫儀zui重要的一個(gè)性能指標(biāo)。每種型號(hào)的測溫儀都有自己特定的測溫范圍。因此 , 用戶的被測溫度范圍一定要考慮準(zhǔn)確、周全,既不要過窄,也不要過寬。根據(jù)黑體輻射定律,在光譜的短波段由溫度引起的輻射能量的變化將超過由發(fā)射率誤差所引起的輻射能量的變化,因此,測溫時(shí)應(yīng)盡量選用短波較好。
確定光學(xué)分辨率（距離及靈敏）:
光學(xué)分辨率由 D 與 S 之比確定,是測溫儀到目標(biāo)之間的距離 D 與測量光斑直徑 S 之比。如果測溫儀由于環(huán)境條件限制必須安裝在遠(yuǎn)離目標(biāo)之處,而又要測量小的目標(biāo),就應(yīng)選擇高光學(xué)分辨率的測溫儀。光學(xué)分辨率越高,即增大 D:S 比值,測溫儀的成本也越高。
操作簡單，使用方便：
紅外測溫儀應(yīng)該是直觀的,操作簡單,易于被操作人員使用,其中便攜式紅外測溫儀是一種集測溫和顯示輸出為一體的小型、輕便、由人攜帶進(jìn)行測溫的儀器,在顯示面板上可顯示溫度和輸出各種溫度信息,有的可通過遙控或通過計(jì)算機(jī)軟件程序操作。在環(huán)境條件惡劣復(fù)雜的情況下,可以選擇測溫頭和顯示器分開的系統(tǒng),以便于安裝和配置。可選擇與現(xiàn)行控制設(shè)備相匹配的信號(hào)輸出形式。
紅外輻射測溫儀的標(biāo)定：
紅外測溫儀必須經(jīng)過標(biāo)定才能使它正確地顯示出被測目標(biāo)的溫度。如果所用的測溫儀在使用中出現(xiàn)測溫超差,則需退回廠家或維修中心重新標(biāo)定。
電氣設(shè)備常見熱缺陷
1.1 熱缺陷的分類
電氣設(shè)備熱缺陷主要是指各種裸露在空氣中，通過一定手段直接檢測到的由設(shè)備接解不良而產(chǎn)生的熱缺陷。按缺陷存在的部分可分為內(nèi)外兩類：一類是長期暴露在大氣中的裸露接頭因接觸不良所引起的熱缺陷，或由于表面污穢，或機(jī)械力作用所引起的導(dǎo)體損傷產(chǎn)生的導(dǎo)電截面降低造成的熱缺陷。另一類是由于設(shè)備在故障而產(chǎn)生的熱缺陷。在上述兩種缺陷中，以導(dǎo)體連接不良性缺陷zui為普遍。而后一種缺陷危害更嚴(yán)重。因此有必要對(duì)其表現(xiàn)型式和特點(diǎn)作一簡要分析。
1.2 熱缺陷的特點(diǎn)
1.2.1 電氣設(shè)備的內(nèi)部缺陷
主要是指封閉在固體絕緣、油絕緣以及設(shè)備殼體內(nèi)部的電氣回路故障和絕緣介質(zhì)劣化所引起的熱缺陷。由于這類缺陷發(fā)生在電氣設(shè)備的內(nèi)部，例如高壓開關(guān)或變壓器的出線套管等，所以我們無法象外部熱缺陷那樣直觀地檢測出來。但是我們可以根據(jù)設(shè)備內(nèi)部結(jié)構(gòu)、運(yùn)行狀態(tài)、故障點(diǎn)熱傳遞形成，結(jié)合設(shè)備的運(yùn)行情況，依據(jù)故障設(shè)備所呈現(xiàn)的紅外熱像圖，分析判斷可能存在的內(nèi)部熱缺陷。
電氣設(shè)備常見的內(nèi)部熱缺陷，一般來說不外乎如下幾種：
（1） 內(nèi)部導(dǎo)電部分連接不良或者觸頭接觸電阻過大；
（2） 內(nèi)部受潮，介質(zhì)損耗增大；
（3） 絕緣材料老化、開裂、脫落；
（4） 電壓分布不勻、泄露電流過大；
（5） 套管內(nèi)部缺油等。
內(nèi)部熱缺陷的特點(diǎn)是，故障點(diǎn)密封在絕緣材料纏繞的金屬導(dǎo)體上，而紅外線穿透能力又比較弱，因此用紅外探測無法準(zhǔn)確地測定故障點(diǎn)的實(shí)際溫升。但熱量可以傳導(dǎo)到設(shè)備外表來，由于各咱設(shè)備內(nèi)部結(jié)構(gòu)的復(fù)雜性，所測到的溫升也千差萬別，因此我們無法用外部缺陷標(biāo)準(zhǔn)來判斷，所以對(duì)內(nèi)部熱缺陷的判斷，只能根據(jù)不同設(shè)備的實(shí)際情況分別探討區(qū)別其熱缺陷等級(jí)，進(jìn)行分類處理。
1.2.2 電氣設(shè)備的外部熱缺陷
實(shí)踐證明，導(dǎo)體外部熱缺陷的根本問題是連接不良性缺陷，由于其裸露在空氣中，因而比較容易診斷，其故障原因主要有以下幾種：
（1） 接頭連接不良，螺栓未壓緊。
（2） 導(dǎo)體接觸而長期運(yùn)行腐蝕氧化。
（3） 大氣中的有害氣體、灰塵引起的腐蝕。
（4） 設(shè)備材質(zhì)質(zhì)量差，加工安裝工藝不好造成導(dǎo)體損傷。
（5） 機(jī)械振動(dòng)等各種原因所造成的導(dǎo)體實(shí)際截面降低。
（6） 負(fù)荷電流不穩(wěn)或超標(biāo)等。
2 熱缺陷的標(biāo)準(zhǔn)劃分
根據(jù)GB73-90以及我們幾年來的實(shí)測數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析，熱缺陷按溫升的高低及對(duì)設(shè)備的危害程度可將其分為一般性熱缺陷、嚴(yán)重性熱缺陷和危險(xiǎn)性熱缺陷三種。
（1）一般性熱缺陷：其溫升范圍在10～20℃之間，與相同運(yùn)行條件下的設(shè)備相比，該接頭有一定的溫升，用紅外成像儀測量僅有輕微的熱像特征，此種情況應(yīng)引注意，檢查是否系負(fù)荷電流超標(biāo)引起，并加強(qiáng)跟蹤，防止缺陷程度的加深。
（2）嚴(yán)重性熱缺陷：發(fā)熱點(diǎn)溫升范圍在20～40℃之間，或?qū)嶋H溫度在60～80℃之間，或設(shè)備相間溫差范圍在1.5～2.0倍之間，熱像特征明顯，缺陷處已造成嚴(yán)重?zé)釗p傷，對(duì)設(shè)備運(yùn)行構(gòu)成嚴(yán)重的威脅，此種缺陷應(yīng)嚴(yán)加監(jiān)視，條件允許時(shí)應(yīng)盡快安排停運(yùn)處理。
（3）危險(xiǎn)性熱缺陷：發(fā)熱點(diǎn)溫升超過40℃，或者zui高溫度已超過GB763-90所規(guī)定的該材料zui高允許值。熱像圖非常清晰，外觀檢查可看到嚴(yán)重的燒傷痕跡。該種缺陷隨時(shí)可能造成突發(fā)性事故，應(yīng)立即退出運(yùn)行，進(jìn)行*檢修。
應(yīng)當(dāng)提出，上述標(biāo)準(zhǔn)的劃分只是一個(gè)基本原則，在應(yīng)用時(shí)應(yīng)注意設(shè)備的實(shí)際運(yùn)行情況，要區(qū)分缺陷的種類，找出產(chǎn)生的原因，以求取得準(zhǔn)確的故障判據(jù)，為檢修處理提供方便。
3、 結(jié)論
（1）紅外診斷技術(shù)能及時(shí)發(fā)現(xiàn)、處理、預(yù)防重大事故的發(fā)生，建立熱缺陷的溫升標(biāo)準(zhǔn)有助于熱缺陷的診斷和處理。
（2）運(yùn)用檢測標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)根據(jù)設(shè)備的缺陷類別具體分析。對(duì)外部熱缺陷可直接運(yùn)用標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)內(nèi)部熱缺陷要結(jié)合必要的輔助手段進(jìn)一步查找原因。
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