50年代到90年代儀器儀表發(fā)展走勢
      50年代初期，儀器儀表取得了重大突破，數字技術的出現使各種數字儀器得以問世，把模擬儀器的精度、分辨力與測量速度提高了幾個量級，為實現測試自動化打下了良好的基點。

   60年代中期，測量技術又一次取得了進展，計算機的引入，使儀器的功能發(fā)生了質的變化，從個別電量的測量轉變成測量整個系統(tǒng)的待征參數，從單純的接收、顯示轉變?yōu)榭刂啤⒎治觥⑻幚怼⒂嬎闩c顯示輸出，從用單個儀器進行測量轉變成用測量系統(tǒng)進行測量。

   70年代，計算機技術在儀器儀表中的進一步滲透，使電子儀器在傳統(tǒng)的時域與頻域之外，又出現了數據或（Data domain）測試。

   80年代，由于微處理器被用到儀器中，儀器前面板開始朝鍵盤化方向發(fā)展，過去直觀的用于調節(jié)時基或幅度的旋轉度盤，選擇電壓電流等量程或功能的滑動開關，通、斷開關鍵已經消失。測量系統(tǒng)的主要模式，是采用機柜形式，全部通過IEEE-488總線送到一個控制品上。測試時，可用豐富的BASIC語言程序來高速測試。不同于傳統(tǒng)獨立儀器模式的個人儀器已經得到了發(fā)展。

   90年代，儀器儀表與測量科學進步取得重大的突破性進展。這個進展的主要標志是儀器儀表智能化程度的提高。突出表現在以下幾個方面：微電子技術的進步將更深刻地影響儀器儀表的設計：DSP芯片的大量問世，使儀器儀表數字信號處理功能大大加強；微型機的發(fā)展，使儀器儀表具有更強的數據處理能力；圖像處理功能的增加十分普遍；VXI總線得到廣泛的應用。