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熒光光譜分析儀

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更新時間:2023-11-18 10:50:36瀏覽次數:165次

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產品簡介

簡要描述: 熒光光譜分析儀SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測系統,集準直、聚焦、樣品激發于一體,是功能強大的金屬分析儀SPECTRO MIDEX 適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。

詳細介紹

 熒光光譜分析儀【深圳華普通用科技有限公司(ICP光譜儀:.cn/icp) 聯系電話:,咨詢】SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測系統,集準直、聚焦、樣品激發于一體,是功能強大的金屬分析儀SPECTRO MIDEX 適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。樣品室配有易于調節的樣品臺。通過20倍變焦攝像機可精確地確定測量位置。儀器配有計算機和專業化的軟件,使操作極為簡便。測量點直徑為0.7mm,樣品的總測量時間不超過100秒。在測定稀有金屬合金中的金含量時,樣品的測量精度為0.15%。SPECTRO MIDEX 也可滿足快速分析的需要,在2分鐘內可完成從鋁到鈾的所有數十種元素的分析。

產品特點:
技術參數:
兩大分類
SPECTRO MIDEX SD(樣品測試距離2 mm)
SPECTRO MIDEX LD(樣品測試距離20 mm)
激發
- Mo靶X光管,功率:30W,電壓:48kV
-測量點尺寸:Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm
樣品室
-可顯示樣品的攝像系統(可調焦)
-手動調節樣品臺,樣品定位簡便
-馬達驅動精確移動的XYZ樣品臺,行程240x178x160 mm(寬x深x高),樣品重量3kg
計算機
-外置式計算機系統,Windows
操作系統,
-鍵盤,鼠標,顯示器,打印機
-菜單式軟件,光譜儀參數調整和數據評估及計算,元素成分及分布顯示
檢測器
- Peltier冷卻的Si漂移檢測器: Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2
-以Mn Kα線,在測量計數率為10,000脈沖計數時,能量分辨率:FWHM< 160 eV
-微處理器控制的檢測器和讀出電路
-脈沖計數率可達250,000 cps
光譜儀數據
-電壓:95-120V/200-240V AC,50/60 Hz,
-光譜儀能耗:200W
-儀器尺寸:670x 580x740 mm
-底座尺寸寬x深:500x550 mm
-重量55-70kg(根據不同配置)
分析
-用于合金元素分析的FP +基本參數程序
-塑料、復合材料用戶名金屬等的RoHS分析專用程序
環境條件
-周圍環境溫度:5-30°C(在20-25°C下,可達到標定儀器性能)
-在25°C下相對濕度: 10-80 %,無冷凝,無蒸氣腐蝕,防塵


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