ISTMODEL878半導(dǎo)體元器件參數(shù)測試儀
ISTMODEL870/ISTMODEL878手冊式
各種半導(dǎo)體器件快速檢測/參數(shù)分選測試儀
自動識別管腳極性和排序漏電分辯1NA,高壓偏置1099V,阻抗測量1TΩ.分立／在板檢測.世界上**臺,****. (一). ISTMODEL870半導(dǎo)體元器件參數(shù)測試儀可對半導(dǎo)體各種元器件提供一個快速完整的檢驗,使用者可以任意方向及排列插入被測件（插錯插反均可）,只需按下二個健即可快速測知該元件的功能好壞, 自動識別各管腳的極性和排序及有無漏電流的可能性． 其主要的設(shè)計目的是針對一般的使用者不必對被測元件的規(guī)格參數(shù)及所須的條件有所認(rèn)識,亦不須費時的輸入各項測試數(shù)據(jù).
870的漏電流量測均是各元件在使用上*常用且重要的參數(shù).計有下列各種:
三極管(Ices):集電極至發(fā)射極間的漏電流,此時基極與發(fā)射極短路以避免電路板或線路上的雜迅干擾.
二極管(Er):陽極至陰極反向偏壓時的漏電流.
模式管MOSFET(IDss):由DRAIN極至SOURCE極間的漏電流,此時間極(GATE)SOURCE短路.
可控硅(IDRM):由陽極至陰極正向偏壓的漏電流,當(dāng)此元件(閘流體)處于截止?fàn)顟B(tài)下場效應(yīng)管J-FET(IGss):閘極反向偏壓的漏電流DRan,SOURCE短路.
光電偶合器(Iceo):輸出端NPN三極管集電極至發(fā)射極間的漏電流,此時基極處于開路狀態(tài).
(二). ISTMODEL870在漏電流上的測試原理:是以固定低電壓源(30V)為偏壓,當(dāng)元件處于截止?fàn)顟B(tài)時加在其對應(yīng)的管腳上,另一端則串入一靈敏度的電流計,可由(nA)納安,(uA)微安至(mA)毫安共6檔,可全自動換檔量程為0納安---40毫安.*高分辯力１nＡ.
一般良好的半導(dǎo)體元件,當(dāng)加在其上的電壓接近或超越其崩潰電壓時,其漏電流才會急促的加大.30V的電壓對一般中小功能的元件來說其漏電電流是很小很小的(<50na),若測試結(jié)果達(dá)到微安(uA)或毫安(mA)級,而已知的良品卻很小,對應(yīng)比較下,可大致確認(rèn)此被測件已呈老化(DEGENERATION)或處于擊穿(DEGRAKE)的狀態(tài),但在功能上還是能工作的不佳品,此種元件工作一久,溫升加大,漏電流更大直至燒毀為止．因此半導(dǎo)體的漏電流大小是*能影響其電路功效和使用年限,代表其品質(zhì)優(yōu)劣的主要因素,尤其對于一些用在高壓,高速開關(guān)上的元件至為重要.
該漏電流的上限可由同一型號已知的良品測量值為準(zhǔn)或參考元件的規(guī)格來判定. 870的漏電流測試由于電壓源的限制,可測知被測件有否漏電的問題,而不像878可測至一般良品的*高耐壓或漏電流的極限值,此仍是二者在此功能上的*大不同之處.
(三). ISTMODEL870除了對三極管,二極管,模式管場效應(yīng)管及可控硅,以300uS的脈沖,進行動態(tài)的功能測試,若測試通過,則自動進行漏電流測量,元件可任意的方向插入測試座,不必事先去辨認(rèn)元件各腳的功能極性或排列順序.相同的方式,對穩(wěn)壓二極管或正/負(fù)穩(wěn)壓源進行輸出電壓的測量.由于ISTMODEL870在價格上的優(yōu)勢及全自動智能化的設(shè)計,極適合一般技術(shù)維修人員操作,當(dāng)補拆下的懷疑元件放入測試后,可確信問題是否已被排除,做為一些維修站的基本配置勢必可行.
(四). 當(dāng)元件被焊在電路板上時可以三點探測器進行在線測試,此方式*適合于表面粘的元件,首先須調(diào)整鑷子般的探筆,使其側(cè)置其上,以大姆指側(cè)壓筆身,食指置于筆上的按鍵上,再移動短探棒至被測件的第三點上,當(dāng)確認(rèn)每點都通過或漏電流值太大時很有可能是由于線路上其他元件所造成,使用者須檢查電路圖或板上的連接狀況再下定論.在板檢測時,ISTMODEL870
上是以低壓進行的,當(dāng)不用時探筆須折除以負(fù)影響.
ISTMODEL878各種半導(dǎo)體器件快速檢測參數(shù)分選測試儀
(一). ISTMODEL878半導(dǎo)體元器件參數(shù)測試儀面板上的開關(guān)置于 FUNCTION 時它在使用上及各項功能就與ISTMODEL870相同,可快速便捷的檢測元件而不須對此元件各項參數(shù)及相關(guān)數(shù)據(jù)的了解,若須進一步測試分析其他參數(shù)或須知參數(shù)在一特定條件下測量值時,就必須將此開關(guān)置于 PARAMETER 上,則ISTMODEL878成為半導(dǎo)體器件在截止?fàn)顟B(tài)下(OFF-STATE)的參數(shù)測量儀了,其可測試的參數(shù)如下:
| 元件種類 | 漏電流參數(shù) | 崩潰電壓 |
| 三極管 | Ices,Iceo,Icbo | BVces,BVceo, BVcbo |
| 二極管 | Ir | BVr |
| 模式管 | IGss, IDss | BVdss |
| 可控硅 | Idrm | BVdrm |
| 場效應(yīng)管 | IGss,IDss | N/A |
| 光偶合器 | Iceo | N/A |
本機在此時其電流計的精度,范圍與檔位與ISTMODEL870相同由0nA(納安)-40mA(毫安)共6檔.偏壓電壓,為二種可程控的電壓源0-30V,及30V-1099V.
(二). ISTMODEL878半導(dǎo)體元器件參數(shù)測試儀在測漏電流時,本機要求輸入偏壓有高電壓檔的(30V-1099V)及(0-30V)的低電壓,由(0nA-40mA),使用者須對被測件的規(guī)格指標(biāo)有一定的了解,以便測知其*大極限值,若所給的電壓過高多余降在限流電阻上,所以實際加在元件上的電壓與使用者先設(shè)定的電壓會有不同,但本機會將此電壓與流過的漏電流實際量測顯示出來,以提供*真實**的結(jié)果.在崩潰電壓的測量過程中由于所設(shè)定的電流值過高,以致高壓源升得過高而造成元件的二次崩潰,本機可自動偵測并實際量測出來,如此可以避免由于使用者輸入過高的測試條件而造成被測件或儀器的受損.
(三). 當(dāng)面板上的開關(guān)置于功能上時ISTMODEL878就變?yōu)?**的ISTMODEL870,所有的功能及操作方式都相同,若置于參數(shù)這邊,則ISTMODEL878就為一個功能強大的21種參數(shù)測量儀,如果測試結(jié)果的上限或下限數(shù)據(jù)被輸入本機的話,則它可成為一個自動辨別好與壞的測試儀.(GO/NO GO TESTER).878除了可程控的偏壓可達(dá)1.099VOLT的漏電流量測及快速的崩潰電壓搜尋外,尚可量二極管在50mA-1A的恒電流源下的導(dǎo)通壓降(Vf ILEAK)此項功能測量任二點的漏電流數(shù)值同時顯示所加在其上的電壓,由此二數(shù)據(jù)可由歐姆定律R=V/I 算出此二點間的阻值.因此可用于偵測在某一設(shè)定的偏壓下任二點的漏電流,或可測量一個器材或設(shè)備的輸入阻抗(1T歐).如;線纜,探頭,開關(guān),電路板,聯(lián)接器,絕緣材料等.
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