美國(guó)TA蒸汽吸附分析儀5000 SA/VTI-SA+ 綜合熱分析儀
5000 SA/VTI-SA+ ¥12
藝橋科技（香港）有限公司
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藝橋科技（香港）有限公司
產(chǎn)品型號(hào)T3Ster
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
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更新時(shí)間：2019-12-23 14:40:19瀏覽次數(shù)：18192次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 儀表網(wǎng)| 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 | 加工定制 | 是 |
|---|---|---|---|
| 適用范圍 | 其他 |
T3Ster熱阻測(cè)試儀
T3Ster是Mentor Graphics公司研發(fā)制造的*的熱瞬態(tài)測(cè)試儀，用于測(cè)試IC、LED、散熱器、熱管等電子器件的熱特性。
T3Ster熱阻測(cè)試儀
品牌：Mentor Graphics
產(chǎn)品描述：
T3Ster是Mentor Graphics公司研發(fā)制造的*的熱瞬態(tài)測(cè)試儀，用于測(cè)試IC、LED、散熱器、熱管等電子器件的熱特性。T3Ster基于*的JEDEC ‘Static Method’測(cè)試方法（JESD51-1），通過(guò)改變電子器件的輸入功率，使得器件產(chǎn)生溫度變化，在變化過(guò)程中，T3Ster測(cè)試出芯片的瞬態(tài)溫度響應(yīng)曲線，僅在幾分鐘之內(nèi)即可分析得到關(guān)于該電子器件的全面的熱特性。
T3Ster測(cè)試技術(shù)不是基于“脈沖方法”的熱測(cè)試儀，“脈沖方法”由于是基于延時(shí)測(cè)量的技術(shù)所以其測(cè)出的溫度瞬態(tài)測(cè)試曲線精度不高，而T3Ster 采用的是“運(yùn)行中”的實(shí)時(shí)測(cè)量的方法，結(jié)合其精密的硬件可以快速精確撲捉到高信噪比的溫度瞬態(tài)曲線。
T3Ster 的應(yīng)用范圍及功能
★應(yīng)用范圍:
Ø 各種三極管、二極管等半導(dǎo)體分立器件，包括：常見的半導(dǎo)體閘流管、
雙極型晶體管、以及大功率 IGBT、MOSFET、LED 等器件；
Ø 各種復(fù)雜的 IC 以及 MCM、SIP、SoC 等新型結(jié)構(gòu) ；
各種復(fù)雜的散熱模組的熱特性測(cè)試，如熱管、風(fēng)扇等 。
★功能：
Ø 半導(dǎo)體器件結(jié)溫測(cè)量；
Ø 半導(dǎo)體器件穩(wěn)態(tài)熱阻及瞬態(tài)熱阻抗測(cè)量；
Ø 半導(dǎo)體器件熱阻和熱容測(cè)量，給出器件的熱阻熱容結(jié)構(gòu)（RC 網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)）；
Ø 半導(dǎo)體器件封裝內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析，包括器件封裝內(nèi)部每層結(jié)構(gòu)（芯片+焊接層+熱沉等）的熱阻和熱容參數(shù)；
Ø 半導(dǎo)體器件老化試驗(yàn)分析和封裝缺陷診斷，幫助用戶準(zhǔn)確定位封裝內(nèi)部的缺陷結(jié)構(gòu)。
Ø 材料熱特性測(cè)量（導(dǎo)熱系數(shù)和比熱容）
Ø 接觸熱阻測(cè)量，包括導(dǎo)熱膠、新型熱接觸材料的導(dǎo)熱性能測(cè)試。
★工作原理：
T3Ster熱阻測(cè)試儀
還有銷售微間距LED 銀漿高速檢測(cè)機(jī)、LED金線結(jié)構(gòu)3D檢測(cè)、微米級(jí)3D測(cè)量?jī)x、LED燈絲檢查包裝機(jī)、在線式LOGO檢測(cè)儀、離線式雙面輔料檢測(cè)儀、離線式雙面檢測(cè)儀 、平面度檢測(cè)設(shè)備、平板電腦半成品AOI檢測(cè)設(shè)備、手機(jī)半成品AOI檢測(cè)設(shè)備、高精度非接觸噴射式點(diǎn)膠機(jī)、膠水檢測(cè)設(shè)備等等。
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