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《打印顯示 薄膜均勻性測試方法》征求意見

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) 2023年03月28日 08:30:28來源:儀表網(wǎng) 21317
摘要近日,國家標(biāo)準(zhǔn)計劃《打印顯示 薄膜均勻性測試方法》編制完成并征求意見,時間截止到2023年5月23日。主要起草單位為京東方科技集團(tuán)股份有限公司等。

  【儀表網(wǎng) 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)】近日,國家標(biāo)準(zhǔn)計劃《打印顯示 薄膜均勻性測試方法》編制完成并征求意見,時間截止到2023年5月23日。主要起草單位為京東方科技集團(tuán)股份有限公司等。
 
  目前在顯示制造行業(yè)里面,新型有源有機發(fā)光二極管顯示(AMOLED)呈現(xiàn)出逐漸成熟壯大的形勢。AMOLED是主動發(fā)光型的顯示,具有輕、薄、低功耗、高亮度、廣視角、高對比度、易柔性化等優(yōu)點。目前應(yīng)用于小尺寸產(chǎn)品,從高端市場切入已逐漸替代TFT-LCD 顯示產(chǎn)品,大尺寸產(chǎn)品市場的份額近兩年也不斷擴大。AMOLED顯示在大部分性能參數(shù)上優(yōu)于傳統(tǒng)TFT-LCD顯示,但是其主要的劣勢之一是制造成本高。
 
  我國顯示行業(yè)目前在研發(fā)各種新的制造技術(shù),結(jié)合AMOLED顯示技術(shù)的性能優(yōu)勢無需增加費用的打印顯示迎來了產(chǎn)業(yè)化發(fā)展機遇,和處于產(chǎn)業(yè)化初期的全球打印顯示處于同步階段,也是我國產(chǎn)業(yè)能否取得行業(yè)主導(dǎo)權(quán)的關(guān)鍵階段。
 
  隨著消費者對超薄、節(jié)能、真彩顯示、柔性顯示等新的顯示性能的需求,打印顯示技術(shù)快速發(fā)展,打印 OLED (Organic Light Emitting Diode,有機發(fā)光二極體)顯示技術(shù)作為典型應(yīng)用,有望憑其自發(fā)光、輕薄可卷曲、高對比度等特點脫穎而出,該技術(shù)與真空蒸鍍法相比,不需要掩膜板即可實現(xiàn)大面積發(fā)光陣列制備,與白光OLED相比,不需要彩色濾光片,可大幅節(jié)省生產(chǎn)成本并降低功耗,根據(jù)以上特點使得該技術(shù)成為極具量產(chǎn)性的中大尺寸顯示面板制造技術(shù)有機會引領(lǐng)下一代新型顯示技術(shù)的跨越式發(fā)展。
 
  目前全球顯示技術(shù)較為發(fā)達(dá)的國家和企業(yè)都給予打印顯示,尤其是打印OLED產(chǎn)業(yè)充分的重視。我國多家高校、研究機構(gòu)和企業(yè)也在同步開展柔性顯示技術(shù)和產(chǎn)品的研究。打印技術(shù)已成為面板制造行業(yè)升級新制造技術(shù)的主要趨勢。
 
  對于打印顯示薄膜均勻性的基本測試項目及測試方法,均沒有統(tǒng)一的國家標(biāo)準(zhǔn)與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),目前各企業(yè)根據(jù)企業(yè)自身特點結(jié)合客戶需求制定僅適合其本企業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行指導(dǎo)生產(chǎn),造成市場上同系列產(chǎn)品在性能、使用特性上無法進(jìn)行橫向直接比較,容易引起市場混亂,在一定程度上影響了打印顯示行業(yè)的健康發(fā)展,因此迫切需要布局開展技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)研究。
 
  本標(biāo)準(zhǔn)主要旨在打印顯示薄膜均勻性的國家標(biāo)準(zhǔn),統(tǒng)一行業(yè)規(guī)范。經(jīng)過研究和試驗,確定了本標(biāo)準(zhǔn)的主要技術(shù)內(nèi)容:1.范圍、2.規(guī)范性引用文件、3.術(shù)語和定義、4.方法原理、5.測試條件、6.測試報告。測試方法中包含的項目:子像素內(nèi)均勻性、相鄰子像素均勻性、短程均勻性。
 
  對于有機電致發(fā)光二極管(OLED)或量子點電致發(fā)光二極管(QLED)等電流驅(qū)動型器件,通常表現(xiàn)為電流密度大時,亮度高;電流密度小時,亮度低。而電流密度和薄膜厚度之間呈現(xiàn)正比關(guān)系。子像素內(nèi)各處薄膜厚度不均勻時,會出現(xiàn)不均勻的電流密度分布,更容易引起材料老化、裂解,引起器件性能衰退。因此需要對像素內(nèi)的薄膜厚度均一性進(jìn)行測試,以實現(xiàn)亮度的均勻性。
 
  測試打印顯示薄膜厚度的方法,通常使用臺階儀(或段差計),可通過接觸表面形貌而獲取薄膜厚度。臺階儀掃描待測樣品表面時,探針的掃描路徑隨著表面形貌而起伏,其運動情況反映了表面輪廓的情況,進(jìn)而得到打印薄膜的厚度,以計算薄膜均勻性。
 

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