冠層分析系統000葉面積指數校正值
將冠層分析儀掃描器上zui外圍的讀數刪除后重新估計葉面積指數（校正值）。校正后的冠層分析儀估計的葉面積指數的范圍在1.1~4.8之間，其平均值為3.8±0.1，比校正前提高了26.7%（與校正前冠層分析儀估計的葉面積指數相比），且通過校正，冠層分析儀的估計值與方框取樣法的測量值之間的差值率減少到了11.6%。相關分析表明，校正后冠層分析儀的估計值與方框取法的測值之間的線性相關關系更為顯著，盡管所擬合直線仍位于對角線下方，但與校正前相比，二者之間的差距已明顯縮小。通過校正明顯地提高了冠層分析儀估計葉面積指數的準確性。
隨著葉面積指數的增加，冠層分析儀估計的葉面積指數與方框取樣法的測定值相差越大。一般而言，果園的葉面積指數越大，葉片之間相互重疊的機率也越大，且葉面積指數越大，樹冠內膛內的光環境就越差，內膛內的葉片較少，而大多數的葉片分布在樹冠的外圍，尤其是樹冠的上層分布的較多，因此也增加了葉片的聚集效應，所以，隨著果園葉面積指數的增大，兩方法得到結果也相差越大，但葉面積指數與兩種方法測量結果差值的百分率之間沒有顯著的相關關系。
儀器名稱：冠層分析系統
儀器型號：000
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