SFT9400半導體雙檢測器膜厚儀，SFT9400系列 X射線熒光鍍層厚度測量儀 產品副名稱：可滿足所有度層厚度測量需求的雙檢測器型鍍層厚度測量儀 產品型號：SFT9400、SFT9450、SFT9455 產品特點： ★ 搭載有高功率X射線管及雙檢測器（半導體檢測器+比例計數管） 可對應組合復雜的應用程序，特別是可識別Ni和Cu之類能量較為接近的元素。 ? 能夠對Ni/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次濾波器的情況下進行測量 ? 對于含Br的電路板，可以不受Br的干擾對Au的鍍層厚度進行高精度的測量 ? 可測量0.01μm以下的超薄的Au鍍層厚度 ★ 搭載塊體FP發軟件和薄膜FP法軟件 對應含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等，適用于廣泛的運用領域 ★ 適用超微小面積的測量 標準配備的15μmΦ的準直器，可對超微小面積進行測量。 ★ 搭載了可3段切換的變焦距光學系統 ★ 擁有防沖撞功能 ★ 搭載高精度樣品平臺，更可測量大型線路板（SFT9455） ★ 搭載激光對焦系統 ★ 搭載測試報告自動生成軟件 產品介紹： SFT9000系列里zui高級的機型「SFT9400系列」搭載有75W高功率X射線管與雙檢測器（半導體檢測器+比例計數管），能滿足“薄膜鍍層”、“合金鍍層”、“超微小面積測量”等鍍層厚度測量需求的高性能鍍層厚度測量儀。 此外，SFT9400系列還在測量鍍層厚度的基礎上，新增了可對不同被測物體積材料進行定性分析和成分分析的功能。：* 深圳市寶安區寶安大道鹽田商務廣場A座421室
