博曼P系列產品概述：
- P系列提供了測量各種樣品尺寸，形狀和數量的靈活性。它配備了一個高精度可編程XY平臺,可在一個固定階段提供多種便利因素。操作員可以使用鼠標和軟件界面輕松移動到所需的測量位置。可以創建多點程序，通過單擊按鈕自動測量多個樣品位置。精確控制可用于測試關鍵區域。通過多點編程可以獲得更大的采樣量。
- 標準配置包括一個4位置多準直器組件和一個用于測量凹陷區域的變焦相機。可以為應用定制準直器和焦距。固態PIN探測器隨附我們的長壽命微焦點X射線管。SDD檢測器是可選的。
博曼P系列可滿足以下類型用戶的需求：
- 小型鍍件領域，如緊固件，連接器或PCB
- 需要測試多個樣品的多個位置
- 期望在多個樣品上實現自動測量
- 樣品尺寸和應用經常變化- 符合IPC-4552A
博曼P系列產品參數：
類別 參數
元素測量范圍： 13號鋁元素到92號鈾元素
X射線管： 50 W（50kV和1mA）微聚焦鎢鈀射線管
探測器： 190eV及以上分辨率的Si-PIN固態探測器
分析層數及元素數： 5層，每層可分析10種元素，成分分析最多可分析25種元素
濾波器： 4位置一次過濾器/4種規格準直器
焦距： 可變焦
數字脈沖器： 4096 多通道數字處理器，自動死時間和逃逸峰校正
計算機： 英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內存, 微軟 Windows 10 專業版, 64位
相機： 1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率
電源： 150W，100-240V，頻率范圍為47Hz至63Hz
重量： 32-50kg
可編程XY平臺：
延伸可編程XY平臺： 平臺尺寸：15"x 13"| 行程：6"x 5"
平臺尺寸：25"x 25"| 行程：10"x 10"
樣品倉尺寸： 高度：140mm（5.5"），寬度：310mm（12"），深度：340mm（13"）
外形尺寸： 高度：450mm（18"），寬度：450mm（18"），深度：600mm（24"）
關于美國博曼：
美國博曼（Bowman）是高精度臺式鍍層測厚儀供應商，擁有近40年的行業經驗。博曼XRF系統搭載擁有自主知識產權的鍍層檢測技術，可精準高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統可同時測量包含基材在內的五層元素，其中任何兩層元素可以是合金。同時，博曼XRF系統也可以測量高熵合金（HEAs）。
