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驗證連接 DUT 后輸出波形
InstaView™ 技術(shù)用在任意波函數(shù)發(fā)生器上可直接查看連接 DUT 后的實時波形，無需使用示波器或其他設(shè)備，節(jié)省測試時間并避免因阻抗不匹配導致的實驗錯誤。
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一分鐘內(nèi)完成雙脈沖測試
AFG31000 是一款包括內(nèi)置雙脈沖測試軟件的函數(shù)發(fā)生器。現(xiàn)在，您可以在一分鐘內(nèi)直接在觸摸顯示屏上生成兩個具有可變脈沖寬度（從 20 ns 到 150 µs）的波形。無需使用外部 PC 應(yīng)用程序或手動編輯。
測量開關(guān)器件參數(shù)并評估 MOSFET 和 IGBT 等功率器件的動態(tài)性能。
下載雙脈沖測試軟件
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下載雙脈沖測試應(yīng)用說明
觀看如何設(shè)置和執(zhí)行雙脈沖測試
只需 3 步就可完成簡單波形序列的編輯。 觀看如何編輯。
高保真度信號與高級模式
打開包裝后，在連續(xù)模式下每通道可以生成高達 16 M 點的精確長波形。可變采集時鐘技術(shù)確保您不再丟失任何波形數(shù)據(jù)。產(chǎn)品功能可升級，您可以進一步提高測試水平并只需花費傳統(tǒng) AWG 十分之一的成本進行復雜波形的創(chuàng)建和編輯。
產(chǎn)品選配功能升級，您可以：
- 將內(nèi)存擴展為每通道 128 M 點（選件 MEM）
- 多達 25 項輸入和控制的序列/觸發(fā)/選通模式（選件 SEQ）用于：循環(huán)、等待、跳轉(zhuǎn)、轉(zhuǎn)至、外部觸發(fā)輸入、手動觸發(fā)、定時觸發(fā)和 SCPI 命令，以便創(chuàng)建時序靈活、復雜的長波形。
簡化任意波形創(chuàng)建
內(nèi)置的 ARB 編輯工具 ArbBuilder 包括創(chuàng)建、編輯和傳輸任意波形的所有操作，無需連接 PC 或向 PC 傳輸文件。 幅度和偏置數(shù)據(jù)存儲在波形中，因此，在加載標準化 ARB 后，無需調(diào)整設(shè)置。
觀看如何才能使用 ArbBuilder™ 輕松創(chuàng)建任何波形。
“AFG 上的這一高級功能可以將典型設(shè)置和測試周期幾乎縮減一半”
- TZ Medical 工程經(jīng)理 John Moore
智能用戶界面
使用超大的 AFG 觸摸屏更快地學習和工作。 9 英寸的屏幕的工作原理和智能設(shè)備類似，因此，您可以通過手指縮放和滾動以便輕松找到設(shè)置和參數(shù)并查找常用設(shè)置的快捷鍵。
觀看如何同步兩臺 AFG31000 設(shè)備。
不止需要兩條通道？
如果您不止需要兩條波形通道來模擬被測設(shè)備 (DUT)，多臺同步設(shè)置用于快速同步兩臺或多臺設(shè)備。 通過屏幕向?qū)畔⒅笇谌昼妰?nèi)完成電纜連接和設(shè)置過程。
優(yōu)異的指標
- 單或雙通道型號
- 接到 50Ω 負載時的輸出幅度范圍 1 mVp-p 至 10 Vp-p
- 基本 (AFG) 模式
- 25 MHz、50 MHz、100 MHz、150 MHz 或 250 MHz 正弦波形
- 250 MSa/s、500 MSa/s、1 GSa/s 或 2GSa/s 采樣率
- 14 位垂直分辨率
- 連續(xù)、調(diào)制、掃描與突發(fā)模式
- 各通道均具有 128 k 點的任意波形內(nèi)存
- 高級模式
- 連續(xù)模式和選配序列、觸發(fā)和選通模式
- 各通道均具有 16 M 點的任意波形內(nèi)存（可選 128 M 點）
- 在包含循環(huán)、調(diào)整和等待事件的序列模式下多達 256 步
- 變量采樣時鐘 1 µSa/s 至 2 GSa/s
- 最小波形長度 168 點，粒度為 1 點
AFG31000（上波形）與上一代 AFG（下波形）的抖動
將噪聲和抖動降低 10 倍
由于噪音本底較低且輸出幅度低至 1mVpp，噪音和抖動技術(shù)規(guī)格比上一代技術(shù)好 10 倍，可以確保測試的清晰度和保真度。
在線升級
由于架構(gòu)基于軟件，您可以直接從網(wǎng)站使用滿足需求的選件升級 AFG31000。
當前可用
- 帶寬升級
- 內(nèi)存大小升級
- 波形排序升級
應(yīng)用：
模擬電路檢定
這是一個模擬世界。 所有物理量均使用模擬信號捕獲和表示。 因此，需要檢定放大器、濾波器和轉(zhuǎn)換器等模擬電路的性能。
- InstaView™ 技術(shù)避免在阻抗不匹配的 DUT 上增加的波形不確定性
- 頻率范圍為 25 MHz 至 250 MHz
- 由于信號保真度高，無需使用外部濾波器或衰減器
- 由于具有頻率捷變特性且正弦波平坦度經(jīng)過校準，頻率響應(yīng)測試可以輕松完成
真實場景信號復制
傳感器廣泛用于幾乎所有現(xiàn)代化電子設(shè)計領(lǐng)域，從汽車到再到電子消費品。 迄今為止，使用 AFG 捕獲波形并進行復制以便排除故障或驗證一直是挑戰(zhàn)的過程。
- ArbBuilder 可直接導入多個泰克示波器產(chǎn)品系列保存的 csv 格式的波形
- 高達 128 M 點的任意內(nèi)存極大地增加了信號的長度
- 低噪音本底使信號更為清晰
函數(shù)驗證和性能檢定
在產(chǎn)品上市前，測試工程師必須進行大量測試用例，確保產(chǎn)品滿足技術(shù)規(guī)格。 但是，此過程比較耗時且重復。
- 可編程，實現(xiàn)自動測試和手動測試的直觀用戶界面
- 波形序列使用戶在一個序列中序列化所有測試程序
- 靈活的重復跳轉(zhuǎn)方法保證高效率
- 高達 128 M 點的任意內(nèi)存和內(nèi)置非易失性閃存存儲所有波形和測試程序
系統(tǒng)與時鐘或脈沖同步
數(shù)字設(shè)計中的所有電路部分按照時鐘速度同時工作。大系統(tǒng)中的所有設(shè)備必須與觸發(fā)信號協(xié)調(diào)，以確保它們正常、可靠地工作。使用 AFG31000 是生成時鐘和觸發(fā)脈沖的有效方法。
- 脈沖/方波頻率范圍高達 160 MHz
- 頻率捷變實現(xiàn)時鐘不同速率的無縫切換
- 易用的向?qū)дf明指導您完成多臺設(shè)備的同步過程以便增加通道數(shù)
- 低抖動水平，讓您在觸發(fā)系統(tǒng)時更加自信
雙脈沖測試
雙脈沖測試是一種用于測量開關(guān)器件參數(shù)和評估 MOSFET 和 IGBT等功率器件動態(tài)性能的方法。雙脈沖測試可測量開啟參數(shù)、關(guān)閉參數(shù)和反向恢復參數(shù)。
執(zhí)行此測試可：
- 確保MOSFET 和 IGBT 等功率器件滿足產(chǎn)品規(guī)格書中的規(guī)格
- 確認功率器件或電源模塊的實際值或偏差
- 在各種負載條件下測量這些開關(guān)器件的參數(shù)，并在多個設(shè)備上驗證性能
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高級研究和教育
研究人員和教師需要大量信號才能完成研究和教學工作。 測試可以像一系列的脈沖一樣簡單，模擬 Geiger-Muller 計數(shù)器的輸出，或者像一個長基帶 IQ 一樣復雜。
- InstaView™ 技術(shù)避免因連接復雜負載上增加輸出波型的不確定性
- 整合多種特性與功能
- 雙工作模式均衡易用性和靈活性以便生成最復雜波形
- 內(nèi)置的 ArbBuilder 用于在屏幕上直接生成和編輯任意波形
