TDS是一種質譜儀，通過監測在超高真空中加熱/升溫后從材料表面產生的氣體，可以評估表面雜質和調查材料本身的成分，目前在半導體、液晶、有機EL、電氣、鋼鐵、汽車、陶瓷等各種領域，用于材料的研究和制造過程中的評估，以及質量控制。

紅外加熱型升溫脫附質譜儀TDS1200II是一種通過質譜儀實時觀測樣品在超高真空中編程升溫時脫附的分子的分析儀。

由于在真空中進行測量，水，氫，氧，二氧化碳等容易產生高背景的成分也可以從極小的量中檢測出來。

可以對從樣品中脫附的分子進行化學物種的鑒定和定量。此外，它還提供了脫附氣體的吸附/結合狀態和擴散過程等信息。
它是測量薄膜樣品和薄板樣品的理想選擇，這些樣品容易進行紅外加熱。新款TDS1200II更新了原有TDS1200的系統，界面采用觸控面板。符合CE使用標準。

主要特色

● 進料固定室：能夠將樣品快速地導入超高真空分析室，提高測量效率（高吞吐量）和靈敏度

● 紅外加熱系統：通過石英棒引入的紅外線直接加熱樣品，即使在高溫區域，本底水平的升高也最小化，可實現高靈敏度測量

● 四級桿質譜儀（QMS）布局：QMS電離室設置在樣品的正上方，以高靈敏度地檢測脫附氣體

● 脫附氣體的定量：當前的定量程序可以快捷、安全地定量脫附氣體