| ST-21型方塊電阻測試儀 ST-21型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。 該儀器以大規模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。  ST-21型方塊電阻測試儀特點 1、采用大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定，低功耗； 2、以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰； 3、采用單個電池供電，帶電池欠壓指示； 4、體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g； 5、特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜  6、探頭帶抗靜電模塊 ST-21型方塊電阻測試儀技術參數 測量范圍 按方塊電阻量值大小分為二個量程檔： 1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□； 2.方塊電阻 10.0～1999.9Ω/□； 最小分辨率：0.01Ω/□ 恒流源： 測量過程誤差：≤±0.8% 模數轉換器： 量程：0～199.99mv； 分辨率：10μv； 方式：LCD大屏幕顯示；極性，超量程均自動顯示；小數點同步顯示； 測量不確定度：在整個量程范圍內，測量不確定度≤5% 四探針探頭規格：間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ 電源：9V疊層電池1節 ST-21方塊電阻測試儀可選配HP系列四探針探頭的型號及規格：
() |
