深圳方源儀器總代理CMI243測厚儀膜厚儀
深圳方源儀器總代理CMI243測厚儀膜厚儀免去了對多探頭、操作培訓和持續保養的需要。牛津儀器總代理深圳市方源儀器有限公司提供可靠的高品質產品，手持式類型易于用戶控制，并且可以同X射線熒光測厚儀的準確性和精密性媲美。為了讓客戶能以低成本購買。
產品儀器探頭:
深圳方源儀器總代理CMI243測厚儀膜厚儀的ECP-M探頭專為較難測量的金屬覆層設計，此單探頭可以測量鐵質底材上幾乎所有金屬覆層，例如鋅、鎳、銅、鉻和鎬。更小的探針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測量。
測量注意事項：
⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數。
⒏在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。
深圳方源儀器總代理CMI243測厚儀膜厚儀產品規格：
品牌：英國牛津儀器Oxford
產品型號：CMI243
檢測范圍：鋅/鐵、鎳/鐵、鉻/鐵、鎘/鐵、銅/鐵等（Zn/Fe,Ni/Fe,Cr/Fe,Cd/Fe,Cu/Fe,etc），包括緊固件、螺絲、汽車部件、齒輪、管件等表面電鍍層。
測量鍍層范圍：
| 鐵上鍍層 | 鍍層厚度范圍 | 探頭 |
| 鋅Zn | 0-1.5mi1 (38um) | ECP-M(標配) |
| 鎘Cd | 0-1.5mi1 (38um) | ECP-M(標配) |
| 鉻Cr | 0-1.5mi1 (38um) | ECP-M(標配) |
| 銅Cu | 0-0.40mi1 (10um) | ECP-M(標配) |
| Non-Mag/Fe | 0-50mi1 (1270um) | SMP-1（選購） |
中國代理商：深圳市方源儀器有限公司
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