面對電子產品越來越小型輕量及高密度封裝，因結露吸濕等因素造成的絕緣不良現象暨離子遷移現象日益突出,絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統配之以高溫高濕試驗箱聯動，可高精度連續監測，高效簡便評估因離子遷移現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。
愛斯佩克絕緣電阻劣化評估系統可用于助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導電膠等有關印刷電路板、高密度封裝的材料、BGA、CSP等精細節距IC封裝件、有機半導體相關（有機EL)、電容、連接器等其他電子元器件及材料、各種絕緣材料的吸濕性特性評估。
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愛斯佩克絕緣電阻劣化評估系統自主開發連續通電掃描繼電器方式，配備國際標準的測量儀表，與環境試驗箱聯動，操作更簡便更安全。標配 100V 應力電壓（應力電壓 / 測量電壓），更有 1000V、2500V 高電壓規格可選。高速準確捕捉離子遷移現象發生的細微變化，離子遷移實時監測。「E-Graph」可實時編輯預覽監測實時獲得的數據。選配可使連接試樣及線纜更方便，試驗效率更高。
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