質(zhì)保時(shí)間長(zhǎng) 3HAC0055-3  傳感器 

.功能測(cè)試不能代替參數(shù)測(cè)試 

2. 功能測(cè)試僅能測(cè)試到器件的截止區(qū)，放大區(qū)和飽和區(qū)，但無法了解此時(shí)的工作頻率的高低和速度的快慢。 

3. 對(duì)數(shù)字芯片而言，僅知道有高低電平的輸出變化，但無法查出它的上升和下降沿的變化速度。 

4. 對(duì)于模擬芯片，它處理的是模擬的變化量。其受電路的元器件的分布，解決信號(hào)方案的不同的影響，是錯(cuò)綜復(fù)雜的。就目前的在線測(cè)試技術(shù)，要解決模擬芯片在線測(cè)試是不可能的。所以，這項(xiàng)功能測(cè)試的結(jié)果，僅能供參考。 

5. 大多數(shù)的在線測(cè)試議，在對(duì)于電路板上的各類芯片進(jìn)行功能測(cè)試后，均會(huì)給出“測(cè)試通過”或“測(cè)試不通過”。那么它為什么不給出被測(cè)器件是否有問題呢？這就是這類測(cè)試儀的缺撼。因?yàn)樵诰€測(cè)試時(shí)，所受影響（干擾）的因素太多。要求在測(cè)試前采取不少的措施（如斷開晶振，去掉CPU和帶程序的芯片，加隔離中斷信號(hào)等等），這樣做是否均有效，值得研究。至少，目前的測(cè)試結(jié)果有時(shí)不盡人意。 

6. 了解在線測(cè)試儀的讀者，均知道有這么一句行話。“在線測(cè)試時(shí)不通過的芯片不一定是損壞的；測(cè)試通過的芯片一定是沒有損壞的。”它的解釋為，如器件受在線影響或抗干擾時(shí)，結(jié)果可能不通過，對(duì)此不難理解。那么，是否損壞的芯片在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，均會(huì)得出“不通過”呢？回答確實(shí)不能肯定。筆者與同行均遇到過，明明芯片已損壞了（確切地說換上這個(gè)芯片板子就不工作了），但測(cè)試結(jié)果是通過的。解釋為這是測(cè)試儀自身工作原理（后驅(qū)動(dòng)技術(shù)）所致。故此我們不能過分依賴在線測(cè)試儀（盡管各廠家宣傳的很玄）的作用，否則將使維修電路板的工作誤入歧途。 

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為搶抓機(jī)器人各細(xì)分領(lǐng)域高速發(fā)展機(jī)遇，搭建機(jī)器人領(lǐng)域交流平臺(tái)，加速機(jī)器人產(chǎn)業(yè)科技創(chuàng)新，產(chǎn)業(yè)發(fā)展促進(jìn)中心，聯(lián)合上海市浦東新區(qū)科技和經(jīng)濟(jì)委員會(huì)及上海張江（集團(tuán)）有限公司，于3月17日在張江科學(xué)會(huì)堂共同舉辦了2023機(jī)器人科技創(chuàng)新論壇暨第二屆張江機(jī)器人生態(tài)峰會(huì)。作為受邀企業(yè)，ABB機(jī)器人業(yè)務(wù)中國(guó)區(qū)總裁梁銳、ABB機(jī)器人業(yè)務(wù)中國(guó)區(qū)消費(fèi)品和服務(wù)機(jī)器人業(yè)務(wù)單元負(fù)責(zé)人王彤，及ABB機(jī)器人中國(guó)研究中心負(fù)責(zé)人張佳帆共同參加了這一峰會(huì)