德國菲希爾 XULM 鍍層厚度測量儀的詳細資料
XULM鍍層厚度測量儀的特點:
- 用途廣泛的鍍層厚度測量儀,包括金層測厚、銀層測厚和化金厚度等;
- 通過組合可選的高壓和濾片,可以對較薄的鍍層(如50 nm Au 或 100 μm Sn)和較厚的鍍層進行同樣效果的測量;
- 配有的微聚焦管,可以測量100 μm大小的微小測量點;
- 比例計數器可實現數千cps(每秒計數率)的高計數率;
- 從下至上的射線方向,從而可以快速簡便的放置樣品;
- 底部C型開槽的大容量測量艙。
XULM鍍層厚度測量儀典型應用領域:
- 測量線路板工業中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的鍍層;
- 電子行業中接插件和觸點上的鍍層;
- 裝飾性鍍層Cr/Ni/Cu/ABS;
- 電鍍鍍層,如大規模生產零件(螺栓和螺母)上的防腐蝕保護層Zn/Fe,ZnNi/Fe;
- 珠寶和鐘表工業;
- 測量電鍍液中金屬成分含量,例如金層測厚、銀層測厚。