關(guān)鍵特征：
· 高精度8軸機(jī)械系統(tǒng)
· 450kV/600kV高功率小焦點(diǎn)射線源
· 額外的225kV/240kV/300kV微米焦點(diǎn)射線源
· 的雙射線源、雙探測(cè)器設(shè)計(jì)
· 可同時(shí)配置平板探測(cè)器和線陣探測(cè)器
· 檢測(cè)范圍：直徑700mm x 高度1000mm
· 承重：200kg
· 支持diHelix螺旋CT掃描
diondo d! | ||
射線管 | 類型 | 可同時(shí)安裝高功率小焦點(diǎn)射線源、反射型高功率微焦點(diǎn)射線管和穿透型納米焦點(diǎn)射線源 |
管電壓 | 小焦點(diǎn)射線管：450kV/600kV 微米焦點(diǎn)射線管：225kV/240kV/300kV/450kV 納米焦點(diǎn)射線管：190kV/225kV | |
冷卻 | 封閉式自循環(huán)冷卻 | |
焦點(diǎn)大小 | 小焦點(diǎn)射線管450kV：0.4mm@700W/1.0mm@1500W (EN 12543) 小焦點(diǎn)射線管600kV：0.5mm@700W/1.5mm@1500W (ASTM E1165-12) 微米焦點(diǎn)射線管225kV/240kV：2um (采用JIMA卡測(cè)試) 微米焦點(diǎn)射線管300kV：3um (采用JIMA卡測(cè)試) 納米焦點(diǎn)射線管：0.5um (采用JIMA卡測(cè)試) | |
探測(cè)器 | 類型 | 非晶硅平板探測(cè)器，線陣探測(cè)器 |
像素大小 | 50um /100um /127um /200um | |
像素?cái)?shù)量 | 平板探測(cè)器：>2048x2048 線陣探測(cè)器：4100 | |
機(jī)械系統(tǒng) | 類型 | 基于大理石基座的高精度機(jī)械系統(tǒng) |
有效檢測(cè)范圍 | 可定制化 | |
承重 | 可定制化 | |
旋轉(zhuǎn) | nx3600 | |
軟件 | 類型 | 2維射線檢測(cè)和3維CT檢測(cè) |
掃描方式 | 標(biāo)準(zhǔn)CT掃描，快速CT掃描，選配diHelix螺旋CT掃描，diPlaner平面CT掃描，多行CT掃描 | |
軟件功能 | 系統(tǒng)控制、2維射線檢測(cè)、3維CT檢測(cè)、平板探測(cè)器校正、圖像處理、灰度分析、掃描范圍擴(kuò)展，支持定制化軟件功能 | |
軟件模塊 | 自動(dòng)2D射線檢測(cè)、自動(dòng)CT檢測(cè)、自動(dòng)2D和CT混合檢測(cè)、系統(tǒng)幾何參數(shù)自動(dòng)校正、感興趣區(qū)域掃描、環(huán)狀偽影校正、射束硬化校正、金屬偽影校正、支持多GPU快速重建、設(shè)備狀態(tài)自動(dòng)監(jiān)控、系統(tǒng)遠(yuǎn)程操控，支持定制化軟件功能 | |
屏蔽室 | 溫度和濕度 | 專用空調(diào)系統(tǒng)，用于控制鉛房?jī)?nèi)的溫度和濕度 |
輻射防護(hù) | 根據(jù)德國(guó) R?V，法國(guó) NFC 74 100 和美國(guó)性能標(biāo)準(zhǔn) 21 CFR 1020.40 制造，無(wú)需進(jìn)一步改造的全防護(hù)屏蔽鉛房。對(duì)于最終使用，須由使用人員根據(jù)當(dāng)?shù)叵嚓P(guān)法律法規(guī)申請(qǐng)相應(yīng)的認(rèn)證許可。 |
diondo可根據(jù)用戶的應(yīng)用和要求，提供定制化的系統(tǒng)配置。
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