Agilent4287A 射頻LCR測(cè)試儀

1MHz～3GHz，以10kHz分檔

阻抗測(cè)量范圍寬，從200mΩ到3kΩ

在低試信號(hào)電平上具有優(yōu)良的測(cè)量重復(fù)性

基本精度為1%

高速測(cè)量:10ms

安捷倫 4287A射頻LCR測(cè)試儀在1 MHz～3 GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測(cè)量，以改進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測(cè)量技術(shù)不同，采用直流電壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精確測(cè)量。

生產(chǎn)率高、質(zhì)量可靠

安捷倫 4287A 適于在射頻范圍對(duì)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。4287A的測(cè)量速度非常快。此外，在小測(cè)試電流(100mA)處優(yōu)良的測(cè)試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因?yàn)樗璧娜∑骄^程非常短。

系統(tǒng)組建簡(jiǎn)單

測(cè)試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測(cè)件接點(diǎn)附近，而不會(huì)使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來簡(jiǎn)化與元件固定裝置和PC機(jī)的組合。增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉(cāng)室適用于多頻或陣列芯片測(cè)試。

便于使用

8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測(cè)量設(shè)置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無(wú)差錯(cuò)。內(nèi)置統(tǒng)計(jì)分析功能可以提供監(jiān)視測(cè)試質(zhì)量和效率的過程。可選用的LAN接口有助于統(tǒng)一進(jìn)行生產(chǎn)監(jiān)控。此外，若干APC-7，SMD測(cè)試夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉(zhuǎn)APC-7適配器聯(lián)用，從而無(wú)需制作專用夾具。

技術(shù)指標(biāo)

測(cè)量參數(shù)：|Z|，|Y|，L，C, R，D, Q, X，G，B，θ
測(cè)量電路形式：串聯(lián)和并聯(lián)
工作頻率：1 MHz～3 GHz
頻率分辨率：10 kHz
信號(hào)源特性：
振蕩器電平：5mVrms～0.25Vrms(輸出端開路)
電平顯示單位：V，I，dBm
連接器：APC-3.5
輸出阻抗(額定值)：50Ω
觸發(fā)：內(nèi)部，外部，手動(dòng)和GPIB
阻抗測(cè)量范圍：200 mΩ～3 kΩ
基本測(cè)量精度：|Z|:1%；D:0.01
測(cè)量時(shí)間：10 ms
接口：GPIB，處理器接口
顯示器：8.4英寸彩色LCD顯示器
儲(chǔ)存：內(nèi)置HDD/FDD，備用SRAM存儲(chǔ)器

一般指標(biāo)

工作溫度/濕度：10～40℃/相對(duì)濕度15%～80%
預(yù)熱時(shí)間：30分鐘
電源要求：90V～132V,或198V～264V，47Hz～66Hz，500VA(值)
尺寸：主機(jī)：426mm(寬)×234mm(高)×446mm(長(zhǎng))

主要技術(shù)資料

4287A射頻LCR 測(cè)試儀產(chǎn)品介紹，p/n 5968-5443E
4287A技術(shù)指標(biāo)，p/n 5968-5758E
LCR 測(cè)試儀，阻抗分析儀和測(cè)試夾具選購(gòu)指南，p/n 5952-1430E