產品介紹
英文名稱：Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Chamber
產品別名：高加速溫濕度應力試驗機、溫濕度偏壓壽命試驗機、高加速溫濕度應力試驗機、無偏置電壓UHAST未飽和高壓蒸汽試驗機、穩態濕熱壽命老化試驗機、BHAST。
產品用途：用于評估非氣密性封裝IC器件（固態設備）在高溫高濕條件下的運行可靠性，對芯片、半導體等其他元器件進行溫濕度偏壓（不偏壓）高加速應力壽命老化試驗。
執行試驗標準：
GB/T2423.40-1997電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱
IEC60068-2-66-1994環境試驗.第2-66部分：試驗方法.試驗Cx：穩態濕熱
JESD22-A100循環的溫度和濕度偏移壽命
JESD22-A101穩態溫度，濕度/偏壓，壽命試驗（溫濕度偏壓壽命）
JESD22-A102高壓蒸煮試驗（加速抗濕性滲透）
JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命
JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗
JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）
產品參數
PCT高壓蒸煮試驗箱 HAS試驗箱（自動門） HAST高壓加速老化箱 UHAST/BHAST
產品特點：
◎內膽采用雙層圓弧設計,可以防止試驗結露滴水現象，從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。
◎產品滿足JESD22-A100至A118偏壓（BHAST）或不偏壓（UHAST）加速抗濕性試驗以及飽和高壓蒸汽（蒸煮）試驗。
◎產品兼容高加速溫濕度應力HAST老化試驗和高壓蒸煮PCT抗濕性試驗。
試驗方法說明：
1. JESD22-A101-C:穩態溫度，濕度/偏壓，壽命試驗（溫濕度偏壓壽命）
ê試驗條件包括：溫度，相對濕度，和元件加偏壓的時間
ê常用測試條件：85℃±2/85%R.H±5/7.12psia（49.1kpa）/8mA/1000h
2.JESD22-A110 ：HAST高加速溫濕度應力試驗
ê常用測試條件：
130℃±2/85%R.H±5/33.3psia（230kpa）96h和110℃±2/85%R.H±5/17.7psia（122kpa）264h
3.JESD22-A118：溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）
ê試驗條件包括：溫度，相對濕度，蒸汽壓力和時間
ê常用測試條件：
130℃±2/85%R.H±5/33.3psia（230kpa）96h（264h）和110℃±2/85%R.H±5/17.7psia（122kpa）264h（96h）樣品數25ea/lot , 3lots
4. JESD22-A102-E：PCT高壓蒸煮試驗
5. JESD22-A102-D：PCT無偏壓高壓加速抗濕性試驗
ê試驗條件包括：溫度，相對濕度，蒸汽壓力和持續時間
ê常用測試條件：121℃±2/99%R.H/29.7psia（205kpa）/24h,48h,96h,168h,240h,336h
