ContourGT表面計量系列產品
用于生產和研發的非接觸式三維光學輪廓儀

• 業界垂直分辨率
• *的可靠性和測量重復性
• 的表面測量和分析速度
• 的使用性，操作簡便，分析功能強大

30年技術革新，實現非接觸式表面測量技術高峰

測量硬件的*設計增強生產環境中的可靠性和重復性

• 高亮度的雙LED照明技術提高測量質量。
• 化的硬件設計提高了儀器對震動的容忍度和GR&R測量的能力。
• 的自動校準能力確保了儀器與儀器之間的相關性，測量準確度和重復性。

高度直觀的用戶界面，擁有業界的操作簡便和分析功能強大

• 優化的用戶界面大大簡化測量和數據分析過程，從而提高儀器和操作者效率
• *的可視化操作工具為用戶提供易于學習和使用的數據分析選項
• 用戶可自行設置數據輸出的界面
  三十年技術創新，迎來第十代全新產品
  我們的干涉儀是一個包含了著名的垂直掃描干涉技術（VSI模式），掃描頭傾斜調整，的自動校準和雙LED照明等革新技術。
  ContourGT系列既結合了這些已被證實的設計功能，又在硬件上進行了大量的改進，從而給用戶提供了目前精確的、重復性光學輪廓儀性能。 Bruker的光學輪廓儀具有已被證實的，將近三十年的*性能運行跟蹤記錄，從研究型實驗室到生產型工廠的上萬臺安裝記錄。
  • 的震動隔離性能*

  ContourGT-X光學輪廓儀配備有一體式的氣動平臺和雙層金屬鑄件，此兩種設計都是為了隔離震動以避免干擾測量效果，從而獲得快速、精確的、可通過GRR測試的測量結果。

  • 光學計量模塊(OMM)

  OMM結合了Bruker的雙LED照明光源技術，在任何樣品任意放大倍數下均可提供的照明強度和均勻性。OMM還能在整個10mm測量量程內提供無以倫比的準確性和可重復性。馬達驅動的多放大倍率檢測器可包含三個視場目鏡，以放大倍率的靈活性和穩定性。

  • 自校準功能*

  ContourGT系列可選擇型號中，具有包含Bruker技術的內置一級標準自校準功能的能力，使得閉環掃描的性能。此模塊包含一個參考信號，在儀器啟動時對系統進行自校準，然后連續監控并校正每次測量，以保證的精確度和的重復性。

  • 傾斜調整支架*

  Bruker的傾斜調整支架設計可使得OMM傾斜，而不是樣品傾斜。這樣，被測量的樣品將總處于聚焦位置，并且在測量的視野中，確保了操作的一致性和簡易性。
  *這些選項僅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型號上具有。

  • 自動樣品臺

  在ContourGT-X型號中具有全自動的8英寸或12英寸樣品臺。兩種樣品臺均配備有0.5um重復性的編碼器。ContourGT-K1型具有可選的6英寸馬達驅動樣品臺。還可選配具有Z方向聚焦旋鈕的XY操縱桿。

  • 塔臺

  選配的馬達驅動塔臺可安裝最多4個干涉物鏡，從1倍至100倍。塔臺設計確保了當您切換物鏡時，您的測試點始終處于聚焦和中心位置。

  • 輔助操作燈泡*
  在防震臺的后面配備有一個LED光源以幫助樣品聚焦和確保操作可觀度。