產品參數
產品編號: 清潔度分析系統BH-CIA200所屬品牌: BAHENS產品型號: BH-CIA200 額定功率：按實際方案提供所屬類別: 清潔度分析系統所屬用途: ISO16232應用領域:產品特性: 清潔度分析系統BH-CIA200對所拍攝的雜質，自動檢測其數量，尺寸，形狀等參數。依據雜質的反光和亞光在圖像上的灰度差別，為金屬與非金屬顆粒的判定和判定提供最直接的參考數據和影像。依據不同長寬比的設定對纖維與非纖維進行精 確分類。下載相關資料-
清潔度分析系統BH-CIA200
顯微鏡
立體顯微鏡（符合ISO16232規定），放大6倍-50倍。
檢測內容
? 雜質平面尺寸
? 雜質數量
? 雜質形狀分類：顆粒或纖維
? 雜質性質分類：反光（金屬），亞光（非金屬，金屬氧化物）
自動拍照、視場自動定位
? 采集過程自動拍照、照片自動保存，進度狀態實時可見；
? 照片信息存入數據庫，方便查詢；
? 提供視場圖片瀏覽功能，可以實現視場定位回溯、重新拍照等功能。
自動識別
? 系統自動識別顆粒、自動分析顆粒類別、自動統計顆粒參數。
? 同時支持修改顆粒。
? 提供多種統計分析工具：MAP圖、顆粒列表、統計結果、直方圖等；
清潔度報告
? 專 業清潔度報告,支持模板化報告生成模式；
? 包含統計數據、評級、濾片全貌圖、顆粒照片等信息；
自動掃描樣品
? 支持多種掃描方式：矩形區域、圓形區域、環形區域、扇形區域等；滿足各種應用需要；
? 新精 確模式可以輕松辨認原本會產生誤判的亞光色金屬顆粒。
? 德國Märzhäuser原裝高精度電動掃描型自動掃描臺；行程76×52mm。
