Snapscan SWIR 系列便攜式凝視型高光譜成像儀，是世界上將像元鍍膜技術與InGaAs紅外探測器技術相結合的高光譜成像儀。集成的線陣列鍍膜方式的高光譜感光元件使其能夠在1100-1650nm的波長范圍內，連續采集100多個通道的光譜數據。通過內部集成的微型壓電位移臺對視場內的目標進行掃描拍攝，相比于傳統高光譜成像儀通過狹縫和光柵進行分光的方式，不僅光通量高，無需推掃平臺，而且數據采集速度更快（僅需幾秒），另外主動制冷模塊的使用和TDI（時間延遲積分）和HDR（高動態）數據采集模式的支持，保證了整套系統可采集高質量，高信噪比的數據。
主要特點：
- 基于像元鍍膜線掃型芯片的內部推掃高光譜成像，無需狹縫和光柵
- 沒有狹縫的限制，通光量更高
- 空間像素分辨率高，一次推掃可實現1200*640的短波紅外高光譜數據采集
- 穩定牢靠，小巧輕便，便于攜帶
基本參數：
| 成像方式 | 行鍍膜方式，內置掃描平臺 |
| 光譜范圍 | 1100-1650nm |
| 光譜波段 | 100 |
| 光譜分辨率 | 10-15nm |
| 信噪比 | 600:1 |
| 位深 | 12bit |
| 散熱 | 半導體制冷+風冷 |
| 接口 | USB 3.0 和 GPIO接口 |
| 重量 | 0.9kg（不含鏡頭） |
