1. 性能特點
（1）光學系統設計，只須掃描一次即可同時區分反光/非反光顆粒，實現無中斷掃描；
（2）全電動硬件設計，全程自動對焦、自動轉換物鏡、自動掃描概貌圖，減少人工操作；
（3）全新開發的簡約操作界面，采用大按鈕設計，可以方便地使用觸摸屏操作，簡化操作步驟；
（4）內置數據庫管理系統，無須保存濾膜；
（5）可選配高倍物鏡，最小可辨別直徑2.5um的極微小顆粒，并在1000倍下觀察其外觀形貌；
（6）支持ISO16232、ISO4406、VDA等業界通行的標準，并可方便地自定義標準；
（7）奧林巴斯原裝高分辨率數字攝像頭，確保分析精度；
（8）標配有附帶證書的清潔度標準尺，一鍵完成系統校驗流程。
*注：深入分析需要選購 20X 物鏡和顆粒高度測量軟件包。
2. 系統整體配置
CIX100 型技術清潔度檢測系統主要有以下四個部分組成：
（1）日本 OLYMPUS 原廠的全電動數字智能型高倍光學顯微鏡（附數碼相機）
① UIS2 無限遠光學系統
② 長壽命、恒定色溫的 LED 光源
③ 電動物鏡轉換器，
④ 電動自動聚焦
⑤ 500 萬像素彩色 CMOS 數碼相機，像素大小 2.2×2.2 μm，滿足 VDA19.1-2015 和ISO 16232-2007 標準規定的顆粒長度上至少排列 10 個像素的要求
⑥ 1.25X、5X、10X 三個物鏡
（2）德國 M?rzh?user Wetzlar 高精度電動載物臺
① 步進電機控制，XYZ 三軸操縱桿控制
② 范圍 130×79 mm
③ 速度 240 mm/s
④ 重復性＜1 μm
（3）電腦和顯示器
① HP Z440 工作站，預裝Windows 10-64 位專業版操作系統和 Microsoft Office 2016
② 16 GB RAM， 256 GB SSD 和 4TB 硬盤
③ 2GB 圖形顯示卡
④ 日本 EIZO 23 英寸超薄觸摸屏顯示器，1920×1080 分辨率
（4）軟件
① OLYMPUS 原廠 CIX-ASW-V1.1 技術清潔度檢測專用工作流軟件
② 國際化版本，支持英語、法語、德語、西班牙語、日語、中文簡體和韓語共七國語言
③ 可使用Windows 用戶權限設置進行用戶管理，為不同的用戶分配不同的軟件功能使用權限
④ 軟件預裝以下清潔度標準，并支持用戶自定義的標準。
另外，系統隨附顆粒標準樣品一個，方便用戶定期自行進行系統檢查，以檢驗設備的檢測效果。
另附有旋扣式濾膜托架一個，無須使用螺絲刀即可方便地固定直徑 47mm 的標準濾膜。
顆粒標準樣品和濾膜托架，不需要任何安裝工具即可快速卡裝到載物臺托板上。
3.主要功能
CIX100 清潔度檢測系統的*符合 VDA 19.1-2015, ISO 16232, ISO4406 和 ISO 4407等標準的要求。通過 OLYMPUS 創新的藍色偏振光技術，一次掃描即可完成整個濾膜上所有污染物的金屬光澤反射屬性的判定，同時根據 VDA19.1 對纖維的形態學定義（拉伸長度/內切圓直徑＞20，內切圓直徑≦50 微米），即可在幾分鐘內迅速自動完成以下四類顆粒的分類和尺寸測量：反光顆粒、反光纖維、非反光顆粒、非反光纖維。
4. 技術特點
（1）內藏式數碼相機和接口，避免人為誤碰
CIX100 清潔度檢測系統的數碼相機和接口采用密封罩進行安全防護，確保在使用中不會因人為誤碰到數碼相機或接口，使安裝時已經調整好的相機方位發生偏差，導致濾膜掃描時發生顆粒圖像拼接錯位，必須原廠技術工程師解決。
碼相機安裝校準完好時的顆粒拼圖
（2）原廠安裝調試合格后整體出廠、用戶現場免安裝
CIX100 清潔度檢測系統在到貨開箱后，從包裝箱中直接取出整機，進行電腦線纜連接后即可投入使用，不像其它設備需要在用戶現場進行安裝調試。CIX100 的整個系統在出廠前就完成了精密而嚴格的整機安裝和系統調試，并附有完備而詳細的原廠安裝調試報告。
（3）創新藍色偏振光技術，一次掃描濾膜，實現金屬和非金屬反光顆粒的的鑒別
CIX100 清潔度檢測系統采用創新的藍色偏振光技術，只需對濾膜掃描 1次，即可鑒別濾膜上顆粒的金屬和非金屬反光，對比傳統的偏振光技術需要對濾膜進行 2 次掃描（正交偏振光下1次，平行偏振光下1次），掃描檢測時間縮短一倍。
傳統偏振光技術
創新的藍色偏振光技術
OLYMPUS 創新的藍色偏振光技術，是在入射偏振光后面，加入了一個專門的補色器， 它改變了入射偏振光的光譜，把它變成了帶有顏色的藍色偏振光。當藍色偏振光照射到非金屬顆粒后，反射的光則變成各種顏色的、各個方向振動的非偏振光，不需旋轉檢偏鏡，非金屬顆粒的亮度相對于濾膜的背景始終是暗黑色的。
入射的藍色偏振光經過金屬顆粒反射后，仍為偏振光。檢偏鏡的角度出廠前經過精確的設置和固定，在使用中無需旋轉就可以讓藍色偏振光通過。這樣，金屬顆粒就會呈現出藍色， 通過彩色數碼相機拍攝后，軟件可以直接進行彩色閾值分割，以區分金屬反光和非金屬反光顆粒。
（4）統可自動設定符合 VDA19.1-2015 規定的曝光時間和閾值
為了使分析結果具有可比性，VDA19.1-2015 對于采用偏振鏡的光學顯微鏡區分顆粒和濾膜背景的圖像灰度的閾值參數，做了明確的規定：濾膜背景的灰度值須設置在整個灰度值的 55%±5%（通過調節光源亮度和相機曝光時間），二值閾值設定在灰度值的 70%，該灰度閾值左側的部分被識別為顆粒。（*摘錄自 VDA19.1-2015 第 137-138 頁）。
CIX100 系統中，使用帶有[VDA]后綴的曝光時間設置和閾值設置進行樣品檢測，即可符合上述標準規定的要求。同時，手動曝光和手動閾值的功能仍然保留，用戶可根據需要自由選擇。
（5）系統采用多點自動聚焦的方式，保證濾膜掃描過程中，聚焦點隨濾膜表面的起伏進行實時自動聚焦。
為了解決濾膜表面不平整導致掃描過程中，無法采集到全部聚焦清晰的圖像的問題。根據濾膜表面的平整度，用戶可在整個濾膜上選擇設置 3 點、7 點（低密度）、11 點（中密度） 或 19 點的（高密度）的自動對焦點，系統據此生成濾膜表面對焦圖，事先計算掃描時每幀的聚焦位置。
（6）掃描后的所有顆粒可進行人工審閱復核和修改，修改結果實時自動更新
掃描檢測完的所有顆粒污染物可進一步人工審閱復核，對軟件誤判的顆粒及時進行刪除、拆分、合并和更改顆粒類。審閱修改的顆粒結果，在所有視圖和檢測結果中實時自動更新。
實時觀察下，可以通過專門的偏振鏡附件（*2）去除金屬反光顆粒的藍色偏振光，還原金屬反光顆粒的本色。
（7）顆粒高度測量（*選配功能）
由于顆粒在濾膜上的形態是三維的，存在卡尺直徑不大，但是高度較高的顆粒。這樣的顆粒同樣非常危險。所以，在 VDA19.1 標準中，有對顆粒高度測量的深入分析的相關規定。在 CIX100 的標準配置基礎上，選配顆粒高度測量包（包含 1 個 20X 物鏡和 1 個顆粒高
度測量軟件包），即可實現顆粒高度測量的功能。
濾膜掃描完成后，根據 VDA19.1 規定的顆粒高度測量方法，在顆粒復核流程中，選擇需要高度測量的顆粒，顯微鏡會在 Z 軸方向自動測量顆粒頂部和濾膜表面的高度差。操作者也可選擇手動測量模式。
（8）Windows 賬戶同步的用戶權限分級管理功能和多國語言版本自由切換
CIX100 清潔度檢測系統可以根據Windows 的用戶管理賬號，按照管理員、超級用戶、用戶三個不同級別進行使用功能的分級，確保用戶（操作員）在日常檢測工作中只能在軟件中進行檢測樣品、審閱結果和創建報表三個最基本的工作環節的操作，保障系統的校準數據、檢測標準設置等的安全，防止被操作員誤操作意外改動和刪除。
檢測軟件在使用中可以隨時在英語、法語、德語、西班牙語、日語、中文簡體和韓語共七國語言之間自由切換，是真正的國際版原廠軟件。
（9）報表模板可以在 Microsoft Word 中根據用戶需要自由編輯排版，并可選擇創建 Word 文檔格式和 PDF 格式的報表。
（10）濾膜檢測后的樣品信息、所有顆粒圖像數據和報表均可存檔，并可隨時調用恢復。
