集成電路測試儀產品簡介:
GT2200A測試儀集功能測試、參數測試于一體，專門用于各種單運放、多運放和電壓比較器的測量 。
功能測試、測量數據、管腳選擇、數據比較等均由CPU完成，不需過多的人工干預。只需簡單且較少的按鍵操作就能讓您得到您所關心的芯片參數，或優劣程度。免去使用各種接線盒來適配各種不同的運放/比較器的煩惱。測試操作簡單，功能齊全，可按需要選取測量參數，測量結果不受人為因素影響。
集成電路測試儀產品特點:
1．根據IC型號自動切換測試，無需人工轉接線更換測試盒。
2．具有自校準功能，測試參數基準穩定。
3．測試參數值讀取快潔、直觀。
4．測試操作簡單。
5．它可以對線性IC的11項交直流參數進行測試及功能測試。
6．提供自適應測試方式：以樣片為基準，對同型號IC 進行篩選測試進行快速篩選。
GT2200A基本使用方法:
先取一個“有代表”性(滿足使用要求)的芯片進行“學習”，即將該芯片的各種應測數據保存起來。再對其他芯片進行有選擇性的“比較”測試，即對您所關心的數據進行自動測量，并與“學習”數據進行比較，顯示出優劣結果。操作十分簡單，容易掌握；尤其是大批量篩選更為簡單，優于樣板的就通過，不必一一讀取測量結果，并逐一查看其是否符合要求。若想看測量結果，也可用按鍵逐一翻看。
應該說它即可滿足生產篩選的需要，也可滿足科研開發使用。
GT2200A 測試參數：
| 測試參數 | 符號 | 單位 | 誤差 |
| 失調電壓 | Vio | mV | <5％ |
| 失調電流 | Iio | nA | <5％ |
| 偏置電流 | Iib | nA | <5％ |
| 靜態功耗 | Pd | mW | <5％ |
| 開環增益 | Avd | db | <5％ |
| 共模抑制比 | Kcmr | db | <5％ |
| 輸入電阻 | Rid | KΩ | <10％ |
| 輸出電阻 | Ros | Ω | <10％ |
| 增益帶寬積 | Gbw | KH | <5％ |
| 電源電壓抑制比 | Ksvr | db | <5％ |
| 輸出電壓峰-峰值 | Vopp | V | <5％ |
測試內容說明：
· 靜態工耗 是在測試電壓為± 8V下測得（個別特殊比較器在+12V/-6V下測得）。
·對于自適應測試，比較誤差小于5%
· 失調電壓 測量范圍：100uV─100mV，
Vos 超過 100mV 時， 認為功能失效；
|Vos| 在2mV─100mV之間，相對誤差<3%；
|Vos| 在0.1─2mV之間，相對誤差<6%失調電流。
· 偏置電流 測量范圍： Ios，Ib >10nA時 相對誤差<3%；
Ios，Ib<10nA相對誤差<8%；
Ios；Ib<0.5nA，相對誤差較大。
· 靜態功耗 測量范圍：0.3─180mW、Pd>10mW，相對誤差 <3%
· 輸出電阻 測量范圍：25─2.5k，分辨率為5Ω
· 輸入電阻 測量范圍：20KΩ─15MΩ，分辨率KΩ
·輸入電阻高于15M的芯片不測此項參數，若“錯敲”鍵入型號，如測LF347而鍵入“342”（LM324），
所測的輸入電阻是不真實的。
· 壓擺率 為擴充測試項。
額定工作條件及規格：
整 機 功 耗： 35W
電 源： 220V/AC 50HZ
使用環境溫度：5─35
相 對 濕 度： 45%RH
重 量： 5.5kg
外界電磁干擾： 避免
