HORIBA XGT-1000WR主要技術指標:
1、 分析元素:Si~UCd/Pb高精度型;Na~U任選:φ1.2 mm/φ0.1 mm切換方式型
2、 檢測精度:Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm
3、 檢測倉內部尺寸:不超過460×360 mm高150 mm
4、X射線照射徑:φ1.2 mm可選:φ1.2 mm/φ0.1 mm 切換
5、 檢測器:高純硅檢測器 XEROPHY
6、 設備重量:約 265 kg不含桌子、計算機
7、 外形尺寸:分析部分:610W×750D×500Hmm
8、 信號處理部:220W×500D×480Hmm
9、可同時測量4層金屬鍍層的厚度。
HORIBA擁有堀場制作所擁有70多年的X射線分析技術沉淀。HORIBA XGT1000WR便是一款經典機型。其X熒光光譜儀被廣泛*使用,廣泛應用于RoHS,ELV,WEEE的檢測和過程控制