Phasics提供創新的方案來解決*的透鏡表征，包括離軸和軸上的MTF和多種波長下的波前誤差，受益于Phasics的*技術，即使在大視場條件下也能提供精確的結果，Phasics的Kale測量儀的特點：
-單次測量，MTF測量高達截止頻率，精度類似于干涉測量法
-高品質的準直光源，經濟有效的解決方案
-無需重新校準離軸測量，自動對焦，易于校準和多種應用
-幾種不同的波長（默認為RGB + IR），在幾個方位角處測量
-全自動測量過程
MTF測量儀可測的參數
-軸上和軸外MTF，通過焦點MTF
-傳輸的波前錯誤，Zernike多項式
-鏡頭參數：EFL，F＃，OPD在鏡頭出口瞳孔
-散光，圖像失真，場曲率
-相對照度曲線
MTF測量儀的具體參數：
參數 | 參數值 |
光學設置 | 有限到無限配置 |
波長范圍 | 400-1100 nm / 900-1700 nm / 3-5µm / 8-14µm |
入瞳直徑 | Up to 8.8 mm |
F# | > 1.8 mm |
Flange焦距 | 8 to 30 mm |
焦距范圍 | 5 to 500 mm |
視場角 | Up to ±120° |
MTF on-axis | 準確性 <1%* - 重復性 <0.5%* |
MTF off-axis | 準確性 <2%** -重復性 <1%** |
MTF 精確度 | LWIR ±0.02 / MWIR ±0.03 / SWIR ±0.01 / Visible ±0.02 |
MTF 重復性 | LWIR & MWIR ±0.015 SWIR & Visible ±0.01 |
失真 | 準確性 <0.5% - 重復性 <0.05% |
場曲率 | 準確性 <5µm - 重復性 <1µm |
OPD（光程差）軸上 | 準確性 20 nm RMS -重復性<5 nm RMS |
Kaleo Bench-iR介紹：
Phasics借助Kaleo Bench-iR系列掀起了紅外光學質量控制領域的革命。 這些創新的工作臺可在一口快速采集中同時提供MTF和波前質量（像差，WFE）。 它們涵蓋了從1.2 µm至14 µm的整個iR范圍。 其*的技術具有*的高分辨率和靈敏度，可確保準確表征，同時簡化設置和調整。
Kaleo Bench-iR特點和功能：
-沿任何方向
-任何瞳孔大小
-軸上和軸外
-高達截止頻率
-各種對焦方法
-EFL，F#，NA
-畸變
-相位圖的實時過濾
-色差
-任何瞳孔大小的TF MTF
-與設計比較
Kaleo MTF離軸透鏡測試平臺介紹：
Kaleo MTF離軸透鏡測試平臺可在多個波長下執行自動離軸MTF和波前誤差測量。 它還通過聚焦MTF，畸變，EFL等方式來測量像差（澤尼克系數）。依據鏡頭的出瞳參數，精確計算并測量透鏡的離軸參數。 該工作臺利用Phasics提供的完整的質量控制技術，具有易用性和多功能性。
Kaleo MTF 離軸透鏡測試平臺特點
-400至1100nm的6個波長
-在不同的方位角的測試
-*自動化
Kaleo-i MTF測量儀介紹：
Kaleo-i MTF測量儀可以表征*的光學質量。 它滿足生產線中符合ISO標準的測量要求。 它測量單焦點和多焦點*（IOL和MIOL）的MTF和屈光度。 利用PHASICS的波前傳感器，可以從像差圖推導出IOL和MIOL設計的深入特征：功率圖，聚焦MTF，方位角（2D）MTF，表面檢查。 在潮濕和干燥條件下，只需要一種儀器即可控制單焦點和多焦點鏡片的質量。幾秒鐘內，即可確定大多數IOL參數（包括屈光度數，屈光度，MTF）。 測量結果高度可重復且準確。
Kaleo-i MTF測量儀的特點：
-符合ISO 11979-2標準的電源和MTF上通過/失敗顯示
-單個鏡頭和批次自動報告
-試管和模型眼
-快速的計算機輔助對準（僅對中）
