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  • Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡

Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡

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  • 品牌其他品牌
  • 所在地北京市
  • 更新時間2020-09-28
  • 廠商性質代理商
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雙束電子顯微鏡

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    北京億誠恒達科技有限公司,位于北京海淀中關村核心區域,是一家專門代理經銷進口科學儀器、測試測量設備的高科技企業,所經營的產品涵蓋材料科學、化學分析、綠色能源、半導體及微電子科學等領域。公司本著“誠信、務實、品質、服務”的經營理念,竭誠為國內廣大用戶提供*的儀器設備,專業的技術咨詢和完善的售后服務。

 

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產地進口 加工定制
Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡
高級檢測技術是 FEI Scios 的核心技術。透鏡內 FEI Trinity™ 檢測技術能夠同時收集所有信號,既節省了時間還能形成鮮明的對比度,從而有助于采集盡可能多的數據。創新的透鏡下同心后散射檢測器能提高效率,使您可以根據信號的角分布選擇信號,從而輕松分離材料和形態對比度,即使著陸能量為 20 eV 也是如此。
Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡 產品詳情

Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡

 FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系統,能為包括磁性材料在內的眾多樣本提供出色的二維和三維性能。FEI Scios 的創新功能可提高通量、精度與易用性,非常適于學院、政府和工業研究環境中的納米量級研究與分析。


 

高級檢測技術是 FEI Scios 的核心技術。透鏡內 FEI Trinity™ 檢測技術能夠同時收集所有信號,既節省了時間還能形成鮮明的對比度,從而有助于采集盡可能多的數據。創新的透鏡下同心后散射檢測器能提高效率,使您可以根據信號的角分布選擇信號,從而輕松分離材料和形態對比度,即使著陸能量為 20 eV 也是如此。EI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系統,能為包括磁性材料在內的眾多樣本提供出色的二維和三維性能。FEI Scios 的創新功能可提高通量、精度與易用性,非常適于學院、政府和工業研究環境中的納米量級研究與分析。


 

高級檢測技術是 FEI Scios 的核心技術。透鏡內 FEI Trinity™ 檢測技術能夠同時收集所有信號,既節省了時間還能形成鮮明的對比度,從而有助于采集盡可能多的數據。創新的透鏡下同心后散射檢測器能提高效率,使您可以根據信號的角分布選擇信號,從而輕松分離材料和形態對比度,即使著陸能量為 20 eV 也是如此。

 Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡

Scios DualBeam 特別適合用于金屬、復合物和涂層等眾多材料,能夠: 

  • 執行高分辨率、高對比度成像,對磁性樣本也不例外 

  • 使用*的 Trinity 檢測套件同步檢測材料、形態和邊緣對比度,從而分析材料的全部屬性 

  • 借助漂移抑制光刻,無需制備樣本即可制作具有位置特異性的切片,甚至可以對非導電材料進行操作 

  • 生成三維數據立方體確定金屬中夾雜物的大小和分布,或對裂紋各個方向的應力和應變進行分析 

  • 搭配 EasyLift™ 可快速可靠地制備高質量樣本,而且只需小的電子束能量即可獲得質量的 S/TEM 結果 

  • 針對 DealBeam TM 常見應用提供*的“用戶指南”和逐步工作流,使得任何經驗水平的操作員都能即刻上手

Scios 的生命科學應用

有效的生物成像需要使用能夠支持眾多不同應用且不會降低對比度和分辨率的多功能設備。FEI Scios 是一款特別易于使用且能力極其出眾的儀器,能使您的眾多不同應用和工作流更具靈活性,功能更強大,而且借助高效和增值工作流, Scios 能讓您在短時間內獲得極為準確的結果

Scios DualBeam 特別適合用于金屬、復合物和涂層等眾多材料,能夠: 

  • 執行高分辨率、高對比度成像,對磁性樣本也不例外 

  • 使用*的 Trinity 檢測套件同步檢測材料、形態和邊緣對比度,從而分析材料的全部屬性 

  • 借助漂移抑制光刻,無需制備樣本即可制作具有位置特異性的切片,甚至可以對非導電材料進行操作 

  • 生成三維數據立方體確定金屬中夾雜物的大小和分布,或對裂紋各個方向的應力和應變進行分析 

  • 搭配 EasyLift™ 可快速可靠地制備高質量樣本,而且只需小的電子束能量即可獲得質量的 S/TEM 結果 

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